Como testar semicondutores de amplo intervalo de banda

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Caracterização de semicondutores WBG com teste de pulso duplo

Os materiais semicondutores de grande largura de banda (WBG), como o nitreto de gálio (GaN), exigem testes de parâmetros estáticos e dinâmicos para evitar perdas durante o transiente de comutação. Um sistema de teste de pulso duplo (DPT) pode realizar testes dinâmicos com base nos padrões JEDEC para semicondutores WBG, incluindo ativação, desativação, comutação, recuperação reversa e carga de porta.

O sistema DPT deve incluir instrumentação, sondas, um sistema de segurança, software de controle automatizado, rotinas de calibração automática, um dispositivo de teste e placas de teste para diferentes configurações de dispositivos. Também é necessário um indutor de carga. Depois que o equipamento estiver configurado, insira os parâmetros da placa no menu de configuração de hardware do software e especifique o indutor externo desejado e seu valor. Em seguida, configure o sensor de corrente R²GC. Feito isso, selecione o dispositivo para configurar o teste.

Solução de teste de pulso duplo

Realize testes de pulso duplo (DPT) usando um método de calibração semiautomatizado e uma técnica de medição. O analisador de dispositivos de potência dinâmica / testador de pulso duplo PD1500A da Keysight é uma solução de teste completa que permite a medição confiável e repetível das características dinâmicas de semicondutores de potência de banda larga (WBG) (SiC, GaN) para atender às especificações JEDEC. As técnicas de medição a seguir estão incluídas: compensação de sonda, ajuste de deslocamento, remoção de distorção e rejeição de ruído de modo comum. 
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Veja a demonstração do teste de semicondutores WBG

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