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Keysightパラメトリックテスターにより、テストコストを削減
 

  • 超高速CPUにより、テストコストを最大20 %削減
  • プロセステストの問題を解決
  • 同期／非同期パラレルテスト機能により、測定スループットの向上とコスト削減を実現
  • 低レベル測定性能の向上
  • カスタム波形の作成
  • 移行コストの削減

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N2502B
N2502B High Speed And Sensitivity TFT Array Test System 
スタート価格  
最大SPGU出力チャネル数: n/a
最大測定ピン数: 576 and more
最小電流測定分解能: 5 pA
Parallel Parametric Test Capability: いいえ
N2500B
スタート価格  
最大SPGU出力チャネル数: n/a
最大測定ピン数: 1440 and more
最小電流測定分解能: 5 pA
Parallel Parametric Test Capability: いいえ
P9001A
P9001A Massively Parallel Parametric Test System 
スタート価格  
最大SPGU出力チャネル数: n/a
最大測定ピン数: 100
最小電流測定分解能: 0.1 fA
Parallel Parametric Test Capability: はい
NX5730A
NX5730A 高スループット1 nsパルスドIVメモリ・テスト・ソリューション 
スタート価格  
最大SPGU出力チャネル数: n/a
最大測定ピン数: 2
最小電流測定分解能: 1 pA
Parallel Parametric Test Capability: いいえ
P9002A
P9002A Parallel Parametric Test System 
スタート価格  
最大SPGU出力チャネル数: 4 channels
最大測定ピン数: 100
最小電流測定分解能: 0.1 fA
Parallel Parametric Test Capability: はい
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Pulsed-IV Parametric Test Solutions

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2019.11.29

ユーザ・マニュアル 2015.09.29

E5250A スイッチング・マトリクス ユーザ・ガイド

E5250A スイッチング・マトリクス ユーザ・ガイド

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2015.09.29

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Why Migrate from the 4155C and 4156C to the B1500A?

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Application Notes 2017.12.01

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The E4980A and 4284A Precision LCR Meters with their DC bias capabilities and wide frequency range can make low and high frequency semiconductor C-V measurements.

2017.12.01

Application Notes 2020.07.10

Impedance Measurement Handbook

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This handbook introduces the basics of impedance measurements using Keysight's LCR meters and impedance analyzers. Learn some great impedance measurement techniques!

2020.07.10

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