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Keysightパラメトリックテスターにより、テストコストを削減
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- 低レベル測定性能の向上
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- 移行コストの削減
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最大SPGU出力チャネル数:
n/a
最大測定ピン数:
576 and more
最小電流測定分解能:
5 pA
Parallel Parametric Test Capability:
いいえ
最大SPGU出力チャネル数:
n/a
最大測定ピン数:
1440 and more
最小電流測定分解能:
5 pA
Parallel Parametric Test Capability:
いいえ
最大SPGU出力チャネル数:
n/a
最大測定ピン数:
100
最小電流測定分解能:
0.1 fA
Parallel Parametric Test Capability:
はい
最大SPGU出力チャネル数:
n/a
最大測定ピン数:
2
最小電流測定分解能:
1 pA
Parallel Parametric Test Capability:
いいえ
最大SPGU出力チャネル数:
4 channels
最大測定ピン数:
100
最小電流測定分解能:
0.1 fA
Parallel Parametric Test Capability:
はい
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