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Keysightパラメトリックテスターにより、テストコストを削減
- 超高速CPUにより、テストコストを最大20 %削減
- プロセステストの問題を解決
- 同期／非同期パラレルテスト機能により、測定スループットの向上とコスト削減を実現
- 低レベル測定性能の向上
- カスタム波形の作成
- 移行コストの削減
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最大SPGU出力チャネル数:
n/a
最大測定ピン数:
29
最小電流測定分解能:
2 µV
Parallel Parametric Test Capability:
いいえ
最大SPGU出力チャネル数:
n/a
最大測定ピン数:
100
最小電流測定分解能:
2 µV
Parallel Parametric Test Capability:
はい
最大SPGU出力チャネル数:
4 channels
最大測定ピン数:
100
最小電流測定分解能:
2 µV
Parallel Parametric Test Capability:
はい
最大SPGU出力チャネル数:
n/a
最大測定ピン数:
12 (optical in), 12 (optical out), 30 (electrical)
最小電流測定分解能:
n/a
Parallel Parametric Test Capability:
いいえ
最大SPGU出力チャネル数:
n/a
最大測定ピン数:
2
最小電流測定分解能:
1 pA
Parallel Parametric Test Capability:
いいえ
最大SPGU出力チャネル数:
n/a
最大測定ピン数:
48
最小電流測定分解能:
2 µV
Parallel Parametric Test Capability:
いいえ
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