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Medalist i1000 / 3070 インサーキットテスタ
Keysightのテストシステムシリーズには、画期的なテクノロジー、i1000 / i3070インターキット・テスト（ICT）、システム・ソフトウェア、サービスが含まれています。
YHP、HP、アジレントから引き継がれるインサーキットテスタのラインナップをご覧ください。
Keysightは、エレクトロニクス・メーカが今日の複雑なプリント基板アセンブリのさまざまなPCBAテスト・アクセスやカバレージの問題に対処するために適した、最高のボード・テスト・ソリューションを提供しています。
現在市販されている中で最高のROICの1つを搭載したi3070/i1000D ICTシステムを使用することにより、インサーキット・テストのボード・テスト・カバレージとテスト・スループットの両方が向上します。
Find the series That's Right for You
アップタイム・サポートおよびサービス
現地での専門的なアップタイム・サポートおよびエンドツーエンド・サービスにより、実環境の製造課題に対処できます。
自動インサーキットテスタ
30年以上に渡るインサーキットテストの経験を活用して、キーサイトはインラインの全自動インサーキット・テスト・ソリューションを提供しています。 小型形状で、内部／外部統合型のインラインハンドラーが付属しています。
インサーキットテスタ > Medalist i1000
Keysight Medalist i1000インサーキット・テスト（ICT）システムは、低価格のインサーキット・テスト・ソリューションです。低価格フィクスチャ・ソリューションを維持しつつ、デジタル・テスト機能を新たに備えました。
インサーキットテスタ > Medalist i3070
Keysight Medalist i3070は、テスト・カバレージと信頼性に優れ、高い投資効果を実現する次世代のインサーキット・テスト・システム (ICT) です。
3070AF ICT i3070 Accessories : Fixture
View ICT i3070 fixture accessories ranging from fixture kits to vectorless test items like VTEP . You can conveniently select items/parts to request for a QuickQuote
N1125A x1149 Boundary Scan Analyzer
Electrical structural test and programming tool based on IEEE 1149.x standards for boundary scan / JTAG technology.
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