Cómo probar semiconductores de banda ancha

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Caracterización de semiconductores WBG mediante la prueba de doble pulso

Los materiales semiconductores de banda prohibida ancha (WBG), como el nitruro de galio (GaN), requieren la prueba de parámetros estáticos y dinámicos para evitar pérdidas durante el transitorio de conmutación. Un sistema de prueba de doble pulso (DPT) puede realizar pruebas dinámicas basadas en las normas JEDEC para semiconductores WBG, incluyendo encendido, apagado, conmutación, recuperación inversa y carga de puerta.

El sistema DPT debe incluir instrumentación, sondas, un sistema de seguridad, software de control automatizado, rutinas de autocalibración, un dispositivo de prueba y placas de prueba para diferentes configuraciones de dispositivos. También se necesita un inductor de carga. Una vez configurado el equipo, introduzca los parámetros de la placa en el menú de configuración de hardware del software y especifique el inductor externo deseado y su valor. A continuación, configure el sensor de corriente R²GC. Una vez hecho esto, seleccione el dispositivo para configurar la prueba.

Solución de prueba de doble impulso

Realice pruebas de doble pulso (DPT) mediante un método de calibración semiautomatizado y una técnica de medición. El analizador de dispositivos de potencia dinámica/probador de doble pulso de Keysight es una solución integral que permite mediciones fiables y repetibles de las características dinámicas de semiconductores de potencia de banda prohibida ancha (WBG) (SiC, GaN) para cumplir con las especificaciones JEDEC. Incluye las siguientes técnicas de medición: compensación de sonda, ajuste de offset, corrección de sesgo y rechazo de ruido de modo común.
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