광대역 갭 반도체 테스트 방법

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이중 펄스 테스트를 이용한 WBG 반도체 특성화

질화갈륨(GaN)과 같은 와이드 밴드갭(WBG) 반도체 재료는 스위칭 과도 상태 중 손실을 방지하기 위해 정적 및 동적 파라미터 모두를 테스트해야 합니다. 이중 펄스 테스트(DPT) 시스템은 턴온, 턴오프, 스위칭, 역회복 및 게이트 전하를 포함하여 WBG 반도체에 대한 JEDEC 표준에 따라 동적 테스트를 수행할 수 있습니다.

DPT 시스템에는 계측기, 프로브, 안전 시스템, 자동 제어 소프트웨어, 자동 보정 루틴, 테스트 픽스처 및 다양한 디바이스 구성을 위한 테스트 보드가 포함되어야 합니다. 부하 인덕터도 필요합니다. 장비 설정이 완료되면 소프트웨어의 하드웨어 구성 메뉴에 보드 파라미터를 입력하고 원하는 외부 인덕터와 그 값을 지정합니다. 다음으로 R²GC 전류 센서를 설정합니다. 완료되면 테스트를 구성할 디바이스를 선택합니다.

이중 펄스 테스트 솔루션

반자동 교정 방법 및 측정 기술을 사용하여 이중 펄스 테스트(DPT)를 수행하십시오. 키사이트 동적 전력 디바이스 분석기/이중 펄스 테스터는 JEDEC 사양을 준수하기 위해 와이드 밴드갭(WBG)(SiC, GaN) 전력 반도체 동적 특성의 신뢰할 수 있고 반복 가능한 측정을 가능하게 하는 올인원 테스트 솔루션입니다. 다음 측정 기술이 포함됩니다: 프로브 보상, 오프셋 조정, 디스큐잉 및 공통 모드 노이즈 제거. 
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