Comment tester les semi-conducteurs à large bande passante ?
Caractérisation des semi-conducteurs WBG à l'aide d'un test à double impulsion
Les matériaux semi-conducteurs à large bande passante (WBG) tels que le nitrure de gallium (GaN) nécessitent de tester les paramètres statiques et dynamiques afin d'éviter les pertes pendant le transitoire de commutation. Un système de test à double impulsion (DPT) peut effectuer des tests dynamiques basés sur les normes JEDEC pour les semi-conducteurs WBG, y compris l'allumage, l'extinction, la commutation, la récupération inverse et la charge de grille.
Le système DPT doit comprendre des instruments, des sondes, un système de sécurité, un logiciel de contrôle automatisé, des routines d'autocalibrage, un montage d'essai et des cartes d'essai pour différentes configurations d'appareils. Un inducteur de charge est également nécessaire. Une fois l'équipement installé, entrez les paramètres de la carte dans le menu de configuration du matériel du logiciel et spécifiez l'inducteur externe souhaité et sa valeur. Ensuite, configurez le capteur de courant R²GC. Une fois cela fait, sélectionnez le dispositif pour configurer le test.
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PD1500A Analyseur dynamique de dispositifs de puissance/Testeur double impulsion
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