Comment réaliser le test LIV pour les dispositifs VCSEL ?

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Réalisation d'un test LIV avec une sortie de courant à impulsions étroites

Les essais courant-tension (LIV) pour les dispositifs laser à cavité verticale (VCSEL) nécessitent un contrôle précis du courant d'injection (I) et de la mesure de la puissance de sortie de la lumière (L). Le processus de test consiste à faire varier systématiquement le courant, à mesurer la puissance lumineuse correspondante et à enregistrer la tension (V) appliquée. Les ingénieurs d'essai peuvent utiliser les unités source/mesure (SMU) pour fournir une source de courant programmable afin d'appliquer une large gamme de courants au VCSEL. Ils ont également besoin de photodétecteurs à grande vitesse pour capturer la lumière émise et mesurer sa puissance avec précision. Les ingénieurs peuvent tracer ces points de données pour créer la courbe LIV, qui fournit une compréhension détaillée des caractéristiques de performance du VCSEL dans différentes conditions de fonctionnement.

Le principal défi consiste à réaliser des tests qui atténuent l'impact de l'auto-échauffement sur la diode et garantissent des résultats de mesure précis. Les variations de température influencent considérablement le comportement des diodes laser. À mesure que la température augmente, l'efficacité du laser tend à diminuer. Les ingénieurs d'essai ont besoin d'une capacité de sortie pulsée plus étroite pour supprimer l'effet d'auto-échauffement et d'un taux d'échantillonnage à grande vitesse pour capturer les impulsions rapides et extrêmement étroites de courant/tension afin de valider les caractéristiques dynamiques. Il est également nécessaire de mesurer de manière synchronisée le courant du photodétecteur (PD) pendant l'émission de lumière pulsée de la diode laser (LD). Cela nécessite un contrôle précis de la synchronisation entre la LD et le PD au sein du logiciel de mesure et du SMU.

Solution d'essai LIV à impulsions étroites

La caractérisation des dispositifs VCSEL nécessite une solution capable d'atténuer l'impact de l'auto-échauffement sur la diode, garantissant ainsi des résultats de mesure précis. La solution de test LIV à impulsions étroites de Keysight est une solution complète qui permet aux ingénieurs de réaliser des tests LIV approfondis dans diverses conditions de fonctionnement, en particulier à des niveaux de courant et de tension ultra-faibles. La solution offre 20 canaux SMU dans un espace de rack compact de 1U. Elle intègre un émetteur d'impulsions et un numériseur afin d'éliminer le besoin d'instruments multiples et de rationaliser considérablement le processus de test. Le logiciel de mesure de la courbe IV qui l'accompagne permet une exécution rapide et sans programmation des tests.
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