Como realizar o teste LIV para dispositivos VCSEL

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Realização do teste LIV com saída de corrente de pulso estreito

O teste de tensão de corrente de luz (LIV) para dispositivos de laser de emissão de superfície de cavidade vertical (VCSEL) exige um controle preciso da corrente de injeção (I) e da medição da potência de saída de luz (L). O processo de teste envolve a variação sistemática da corrente, a medição da saída de luz correspondente e o registro da tensão (V) aplicada. Os engenheiros de teste podem usar as unidades de fonte/medição (SMUs) para fornecer fornecimento de corrente programável para aplicar uma ampla gama de correntes ao VCSEL. Eles também precisam de fotodetectores de alta velocidade para capturar a luz emitida, medindo sua potência com precisão. Os engenheiros podem plotar esses pontos de dados para criar a curva LIV, que fornece uma compreensão detalhada das características de desempenho do VCSEL em diferentes condições de operação.

O principal desafio está na realização de testes que atenuem o impacto do autoaquecimento no diodo e garantam resultados de medição precisos. As variações de temperatura influenciam significativamente o comportamento dos diodos de laser. Com o aumento da temperatura, a eficiência do laser tende a diminuir. Os engenheiros de teste exigem uma capacidade de saída pulsada mais estreita para suprimir o efeito de autoaquecimento e uma taxa de amostragem de alta velocidade para capturar os pulsos de corrente/tensão rápidos e extremamente estreitos para validar as características dinâmicas. Também é necessário medir de forma síncrona a corrente do fotodetector (PD) durante a emissão de luz pulsada do diodo de laser (LD). Isso requer um controle de tempo preciso entre o LD e o PD no software de medição e na SMU.

Solução de teste LIV com pulsação estreita

A caracterização de dispositivos VCSEL requer uma solução que possa atenuar o impacto do autoaquecimento no diodo, garantindo resultados de medição precisos. A solução de teste LIV de pulso estreito da Keysight é uma solução abrangente que permite que os engenheiros realizem testes LIV aprofundados em diversas condições operacionais, especialmente em níveis ultrabaixos de corrente e tensão. A solução oferece 20 canais SMU em um espaço compacto de rack de 1U. Ela integra um pulsador e um digitalizador para eliminar a necessidade de vários instrumentos e simplificar significativamente o processo de teste. O software de medição de curva IV que o acompanha proporciona uma execução de testes rápida e sem programação.
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