VCSELデバイスにおけるLIVテストの実施方法

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狭パルス電流出力によるLIVテストの実行

垂直共振器面発光レーザー (VCSEL) デバイスの光電流電圧 (LIV) テストには、注入電流 (I) と光出力パワー (L) 測定の正確な制御が必要です。テストプロセスでは、電流を系統的に変化させ、対応する光出力を測定し、印加電圧 (V) を記録します。テストエンジニアは、ソース／メジャーユニット (SMU) を使用して、プログラマブルな電流源を提供し、VCSELに広範囲の電流を印加できます。また、放出される光を捕捉し、そのパワーを正確に測定するために、高速フォトディテクタも必要です。エンジニアはこれらのデータポイントをプロットしてLIVカーブを作成し、さまざまな動作条件下でのVCSELの性能特性を詳細に理解することができます。

主要な課題は、ダイオードの自己発熱の影響を軽減し、正確な測定結果を保証するテストを実施することです。温度変化はレーザーダイオードの動作に大きく影響します。温度が上昇すると、レーザー効率は低下する傾向があります。テストエンジニアは、自己発熱効果を抑制するためのより狭いパルス出力機能と、動的特性を検証するために高速かつ極めて狭い電流/電圧パルスを捕捉するための高速サンプリングレートを必要とします。また、レーザーダイオード(LD)からのパルス光放出中にフォトディテクタ(PD)電流を同期して測定することも必要です。これには、測定ソフトウェアとSMU内でLDとPD間の精密なタイミング制御が必要です。

ナロー・パルス テストソリューション

VCSELデバイスの特性評価には、ダイオードの自己発熱の影響を軽減し、正確な測定結果を保証する必要があります。キーサイトの狭パルスLIVテストソリューションでは、エンジニアのさまざまな動作条件、特に超低電流および超低電圧レベルで詳細なLIVテストを実施できるようになります。コンパクトな1Uラックスペースに20チャンネルのSMUを搭載。パルサーとデジタイザを内蔵しているため、複数の計測器を用意する必要がなくなり、テストプロセスを大幅に効率化できます。付属のIV曲線測定ソフトウェアにより、プログラミング不要で迅速にテストを実行できます。
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