光デバイスDC 供給方法

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高精度ソース／メジャーユニット
+ プレシジョン ソース／メジャーユニット
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高精度ソース／メジャーユニットを使用した光デバイスのテスト

高集積光デバイスのテストには、多数の精密バイアス源が必要です。例えば、集積型波長可変レーザーのテストでは、安定した光性能を確保するために、レーザーダイオード用の精密電流源が必要です。光デバイスは、波長を正確に調整するために、各ヒーター用の精密バイアス源も必要とします。同様に、コヒーレント光トランシーバーは、電気信号を光信号に正確に変換するために、位相制御電極に正確に同期された複数のバイアス源を必要とします。波長可変レーザーおよびコヒーレント受信機の光パワーと波長をテストするには、微細なバイアス掃引ステップによる詳細な特性評価が必要です。テスト時間の著しい延長や、熱効果による意図しない波長シフトなどの問題が発生する可能性があります。

ソースと測定の両操作に対応する独立したトリガシステムを備えた、高密度高精度ソース／メジャーユニット（SMU）、別名ソースメータを使用してください。ソースと測定の両方に同じパラメータを適用することで、バイアス電圧の変更とバイアス点での電流測定を繰り返すといった簡単な掃引測定を容易に実行できます。パルサーとデジタイザ機能を統合したSMUは、必要なテスト機器とシステム設置面積を削減できます。低ノイズDC信号により、SMUはテスト結果の精度を損なう可能性のある不要な干渉を導入するリスクを軽減します。変調器性能の詳細な分析のために安定した制御されたバイアス環境を提供し、テスト結果が実世界の期待と一致することを保証します。

ソリューションデバイスDC ソリューション

高集積光デバイスのテストには、独立したトリガ・システムを備えた高精度 SMUが必要です。Keysightの光デバイスDCソリューションは、高さ1Uのラックスペースに20個のSMUチャネルを集積し、テストシステムの設置面積を最小限に抑えます。このソリューションには、機器の制御、ケーブル配線、同期を簡素化するインテリジェント・トリガ・システムが含まれています。この方式により、高速デジタル タイミング制御と迅速な電圧スイープが可能になります。高精度 かつ容易な統合機能により、光デバイス試験の評価プロセスを合理化し、大幅な省スペース化と試験効率の向上を実現します。
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