如何為光學裝置提供直流偏壓

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精密源量測單元
+ 精密電源/量測單元
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使用精密光源/測量單元測試光學裝置

測試高度整合的光學裝置需要大量的精密偏壓源。例如，測試整合式可調波長雷射需要雷射二極體的精密電流源，以確保穩定的光學效能。光學裝置還需要每個加熱器的精密偏壓源，以精確調整波長。同樣地，同調光學收發器需要多個偏壓源精確同步到相位控制電極，以準確地將電訊號轉換為光訊號。為了測試可調雷射和同調接收器的光功率和波長，必須進行具有精細偏壓掃描步驟的詳細特性分析。可能會出現測試時間顯著延長以及熱效應導致的意外波長偏移等問題。

使用高密度精密源量測單元 (SMU)（亦稱作源錶），其具備獨立觸發系統，可用於源和量測操作。對源和量測應用相同參數，可輕鬆執行直接的掃描量測，例如重複改變偏壓並量測偏壓點的電流。整合脈衝產生器和數位化儀功能的 SMU 可減少所需的測試儀器和系統佔用空間。透過低雜訊直流訊號，SMU 可降低引入不必要干擾的風險，避免影響測試結果的準確性。提供穩定且受控的偏壓環境，以便深入分析調變器性能，並確保測試結果符合實際預期。

光學裝置直流偏壓解決方案

測試高度整合的光學裝置，需要一個具備獨立觸發系統的高密度精密 SMU。Keysight 光學裝置直流偏壓解決方案在 1U 高度的機架空間內整合 20 個 SMU 通道，最大限度地減少測試系統佔用空間。該解決方案包含一個智慧觸發系統，可簡化儀器控制、佈線和同步。此方法可實現高速時序控制和快速電壓掃描。高精度和易於整合的能力簡化了光學裝置測試的評估過程，節省了大量空間並提高了測試效率。
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觀看使用 SMU 設定直流偏壓源示範

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