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半導体テスト
キーサイトの半導体テスト機器を使って、新しい半導体を迅速に、コスト効率良くテストしましょう
ウエハーメーカー向けシリコン・フォトニクス・テスト・ソリューション
800Gプラグ可能なトランシーバーや共同パッケージ式オプティクス(CPO)技術への関心が高まる中、ウエハーメーカーはCMOSプロセス技術を活用したシリコン・フォトニクス・チップの製造に進出しています。
しかし、シリコンフォトニクスの製造テストを実行するに伴い、従来の電気的な測定やプロービングに比べ、高感度な光学測定の統合や複雑な光学プローブのアライメントといった新たな技術的課題が発生します。
さらに、全自動テスト機能、高度な測定再現性、高いシステム稼働率など、ウエハー製造のテストシステムに求められる一般的な要件も満たす必要があります。
キーサイトは、これらの技術的課題に注力した、一元のシリコン・フォトニクス・テスト・ソリューションを提供し、現在および将来のシリコン・フォトニクス・ウエハー製造における事業の成功に貢献します。
メーカー向け半導体テスト機器
半導体メーカーは、リソグラフィーの最新トレンドや高速測定手法を常に取り入れていく必要があります。 半導体テストおよび計測ソリューションにおけるイノベーターであるキーサイトは、お客様が高速で高精度を持つ最新鋭のプローブと、光学スキャン検査における最新の進化を求めていることを理解しています。 キーサイトの半導体テストソリューションがあれば、テストコストを削減し、利益を増やし、新しい市場での優位性を確保することが可能になります。
エミュレーションで半導体設計テスト
デザインプロセスにおけるテスト段階が遅れると、失敗したときにかかるコストも膨れ上がります。 テープアウト前にASIC/SoCの機能をテストすることで、チップの再設計を回避し、何百万ドルもの開発コストと貴重な市場投入までの時間を節約できます。
IxVerify は、ルーター、スイッチ、自動車、SmartNIC ASIC/SoC の設計をエミュレーションでプリシリコンで検証するための、業界初のネットワーク・テスト・ソリューションです。 何百もの定義済みパケットテンプレートとパワフルな自動化を搭載したこのソリューションは、帯域幅、遅延、プロトコル解析のための強力な解析ツールを使って大量のイーサネット設計をテストします。
完全仮想のプリ・シリコン環境と、ハードウェアや仮想トラフィックジェネレーターを使うポスト・シリコンのテスト環境との間でテストを再利用することで、市場投入までの時間短縮とコスト削減に貢献します。
パラメトリックテストソリューション
キーサイトの半導体テストテクノロジーと製造プロセステクノロジーが、お客様のテストコストを削減し、研究開発と製造におけるテストの課題を克服します。 キーサイトのパラメトリックテスターシリーズで、正確なローレベル測定性能を手に入れましょう。
4080シリーズには、基本的なパラメトリックテストに必要とされるさまざまな測定機能が備わっています。
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