Ponga a prueba el futuro de la tecnología de semiconductores

Ofrece una completa guía de diseño, soporte para diseños no lineales y herramientas de optimización para mejorar el rendimiento. y herramientas de optimización para mejorar el rendimiento.

Facilita el análisis, la simulación y la optimización eficientes de circuitos de RF y microondas para diseños de alto rendimiento.

Integra simuladores de momento planar 3D y de elementos finitos 3D completos para garantizar la integridad del diseño durante todo el proceso.

Integra datos térmicos en simulaciones de circuitos y detecta problemas de fiabilidad en elementos de escala submicrónica.

Permite realizar simulaciones electromagnéticas 3D precisas para obtener información eficaz sobre el diseño sin necesidad de prototipos físicos.

Optimiza el diseño RFIC con solvers y librerías avanzadas, garantizando la precisión del modelado, la simulación y la eficiencia.

Ofrece simulaciones rápidas, una precisión cercana al circuito y una integración perfecta para trabajar con sistemas de RF complejos. para trabajar en sistemas de RF complejos.

Extrae modelos compactos precisos utilizados en aplicaciones RF de alta velocidad/digitales, analógicas y de potencia.

Admite modelos estándar y ofrece paquetes de extracción automática para el modelado de dispositivos de silicio.

Permite validar y comparar modelos SPICE, generando informes de control de calidad con un solo clic.

Ofrece caracterización de dispositivos con herramientas de tratamiento de datos para mediciones de ruido de baja frecuencia.

Permite flexibilidad de diseño para satisfacer necesidades de rendimiento específicas con opciones estándar y configurables.

Proporciona una solución integrada de pruebas ópticas y eléctricas para la inspección de obleas totalmente automatizada.

Le permite construir su propio comprobador paramétrico de serie a paralelo.

Permite contactos sin soldadura y una verdadera sonda de aislamiento de impulsos.

Ofrece mediciones intravenosas de alta resolución y resultados rápidos con una interfaz fácil de usar.

Ofrece precisión para cumplir las pruebas paramétricas / de fiabilidad y caracterización de semiconductores.

Proporciona 20 canales Unidad de Alimentación y Medida en un espacio de rack de 1U y se adapta a una amplia gama de requisitos de aplicación.

Caracteriza dispositivos de alta potencia y admite diversas mediciones de tensión, corriente y capacitancia.

Se integra con PathWave WaferPro para automatizar el control de sondeo de obleas en colaboración con FormFactor.

Identifica y analiza señales y eventos anómalos intermitentes en la forma de onda que el análisis manual no puede detectar.

Permite caracterizar con precisión el receptor de dispositivos de una o varias vías que funcionen a 16 o 32 Gb/s.

Ofrece prestaciones de I+D hasta 53 GHz, flexibilidad de pruebas avanzadas y caracterización completa de dispositivos.

Permite probar estándares de 400 GbE con compatibilidad para señales PAM4 y NRZ con transiciones rápidas y baja fluctuación.

Descubra una solución de pruebas no destructivas basada en la capacidad que identifica con precisión los defectos en la microelectrónica unida por cables.