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Sistemas de prueba paralelos
Pruebas escalables y flexibles para conjuntos de placas complejos
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Analizadores de barrido de contornos
Aislamiento eficiente de fallos con precisión a nivel de pin
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Sistemas de pruebas funcionales
Sistema integrado de pruebas funcionales para obtener resultados de producción fiables.
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Sistemas de prueba en circuito
Detección precisa de fallos en placas de alta densidad
Sistemas de prueba paralelos
Los sistemas de pruebas en paralelo de Keysight ofrecen soluciones versátiles y escalables para los diversos requisitos de pruebas de fabricación. El Advanced ofrece una plataforma compacta y rentable para las pruebas de placas de circuito impreso (PCB) de señal mixta, con capacidades analógicas, digitales y de escaneo de límites integradas. Simplifica el desarrollo y la integración de las pruebas, lo que lo hace ideal para entornos de producción ajustada. El Expert ofrece un rendimiento inigualable para aplicaciones exigentes con miles de canales de prueba simultáneos, una arquitectura modular y una cobertura completa, que incluye pruebas en circuito, de escaneo de límites y funcionales. Este sistema destaca en la fabricación de alta variedad y gran volumen, proporcionando diagnósticos rápidos y una integración perfecta con la automatización. Explore nuestra amplia gama de sistemas de pruebas paralelas, desde niveles de rendimiento avanzados hasta expertos, para encontrar el más adecuado para su aplicación. ¿Necesita ayuda para elegir? Consulte los recursos que se indican a continuación.
Advanced
Expert
Analizadores de barrido de contornos
Los analizadores de escaneo de límites de Keysight ofrecen capacidades avanzadas de prueba digital para placas de alta densidad, lo que permite aislar fallos con precisión sin necesidad de acceder físicamente a la sonda. El sistema está diseñado para realizar pruebas estructurales eficientes y proporciona diagnósticos rápidos de interconexiones, cortocircuitos, circuitos abiertos y fallos de bloqueo en conjuntos digitales complejos. Con una integración perfecta en los sistemas de pruebas funcionales y en circuito, el escaneo de límites es compatible con las cadenas de escaneo basadas en JTAG. Permite el acceso a redes de difícil acceso, lo que reduce el tiempo de desarrollo de las pruebas y mejora la cobertura. Explore nuestro escaneo de límites para encontrar el que mejor se adapte a su aplicación. ¿Necesita ayuda para seleccionar? Consulte los recursos que se indican a continuación.
Sistemas de pruebas funcionales
Los sistemas de pruebas funcionales de Keysight ofrecen una solución modular y flexible para probar conjuntos electrónicos complejos. Con mediciones de precisión, conmutación de alta densidad, suministro de energía configurable y adquisición de señales sincronizada, el sistema es compatible con una amplia gama de aplicaciones analógicas, digitales y de señal mixta. La automatización integrada y la supervisión en tiempo real agilizan el desarrollo de las pruebas y mejoran la cobertura, lo que lo hace ideal para validar dispositivos como ECU automotrices, controladores industriales y placas integradas. Explore nuestra amplia gama de sistemas de pruebas funcionales para encontrar el más adecuado para su aplicación. ¿Necesita ayuda para seleccionar uno? Consulte los recursos que se indican a continuación.
Sistemas de prueba en circuito
Los sistemas de pruebas en circuito de Keysight proporcionan soluciones escalables y de alto rendimiento para probar placas de circuito impreso complejas y densamente pobladas en la fabricación de gran volumen. Con configuraciones de pines flexibles, compatibilidad con escaneo de límites, capacidades de prueba sin vectores y mediciones analógicas programables, estos sistemas garantizan una detección rápida y precisa de fallos de montaje, como defectos de soldadura, componentes mal orientados y valores erróneos. Los diagnósticos integrados, las herramientas intuitivas de desarrollo de pruebas y la integración preparada para la automatización agilizan los flujos de trabajo de producción, al tiempo que reducen las falsas alarmas y mejoran el rendimiento en la primera pasada. Explore nuestra amplia gama de sistemas de prueba en circuito para encontrar el que mejor se adapte a su aplicación. ¿Necesita ayuda para seleccionar? Consulte los recursos que se indican a continuación.
Impulsando la confianza en las pruebas electrónicas para automóviles
La electrónica automotriz requiere pruebas precisas y exhaustivas para garantizar su fiabilidad y seguridad. Los sistemas de pruebas en circuito de Keysight ofrecen características clave como mediciones de baja corriente, pruebas de supercondensadores, diagnósticos de LED y detección rápida de cortocircuitos, que son ideales para módulos como ECU, controladores de motor y placas de sensores. Las soluciones de alto rendimiento prueban de manera eficiente placas compactas en paralelo, mientras que las herramientas de exploración de límites mejoran la cobertura de los nodos inaccesibles. Juntas, estas herramientas garantizan el rendimiento y la calidad en la electrónica automotriz de alta y baja complejidad.
Explore el software y los accesorios compatibles con su solución de pruebas en circuito para la fabricación.
Elija entre una amplia gama de software de pruebas en circuito para la generación optimizada de programas de pruebas, el diagnóstico avanzado de fallos y una mayor cobertura de pruebas. Complemente su sistema ICT con accesorios como kits de fijación, módulos de sonda, herramientas de exploración de límites, conjuntos de cables, placas sensoriales, sondas individuales y mucho más.
Explore las pruebas en circuito para casos de uso en fabricación.
Pruebas en circuito para la fabricación: compatibles con una amplia gama de pruebas en diversos sectores. Descúbralas todas.
Fabricación
Cómo realizar mediciones de baja corriente en PCBAs
Integre una unidad de medición de fuente en el comprobador en circuito.
Fabricación
Cómo integrar un comprobador en circuito en la Industria 4.0
El comprobador en circuito y IPC-CFX hacen posibles las fábricas de la Industria 4.0.
Fabricación
Cómo acelerar las pruebas cortas en nodos de alta impedancia
Implementar el algoritmo mejorado para pruebas cortas en un sistema de pruebas en circuito para mejorar el tiempo de prueba en pruebas cortas.
Servicios y asistencia
Innovar rápidamente con planes de asistencia personalizados y tiempos de respuesta y resolución priorizados.
Obtenga suscripciones predecibles basadas en arrendamiento y soluciones completas de gestión del ciclo de vida, para que pueda alcanzar sus objetivos empresariales más rápidamente.
Disfrute de un servicio superior como suscriptor de KeysightCare y obtenga una respuesta técnica comprometida y mucho más.
Asegúrese de que su sistema de pruebas funcione según las especificaciones y cumpla con las normas locales y globales.
Realice mediciones rápidamente con formación interna impartida por instructores y aprendizaje electrónico.
Descargue el software de Keysight o actualice su software a la versión más reciente.
Preguntas más frecuentes
Seleccione un sistema de TIC en función de la densidad de la placa de circuito impreso, el volumen de producción y las necesidades de cobertura de pruebas. Tenga en cuenta lo siguiente:
Capacidades del sistema: Los sistemas TICde Keysight Technologies son compatibles con placas de circuito impreso de alta densidad, componentes de paso fino y placas multicapa complejas.
Estrategia de fijación: evalúa el coste, la escalabilidad y la durabilidad de los elementos de fijación en función de tu rendimiento.
Software y análisis: El softwarede Keysight Technologies permite realizar diagnósticos, mejorar el rendimiento e integrarse con fábricas inteligentes de todo el mundo.
Adaptación a la producción: garantizar la compatibilidad con las líneas instaladas en América del Norte, Europa y Asia.
Retos actuales: es posible que las TIC requieran pruebas complementarias (por ejemplo, AOI, pruebas funcionales) para detectar lagunas en la cobertura y paquetes avanzados.
Seleccione un sistema de TIC ajustando las especificaciones técnicas a la complejidad de los circuitos impresos y a los objetivos de producción. Entre los factores clave se incluyen:
Número de pines / capacidad de nodos: Los sistemas ICTde Keysight Technologies pueden ampliarse de cientos a miles de nodos de prueba (por ejemplo, hasta unos 5760 nodos) para dar soporte a placas de alta densidad.
Cobertura de pruebas: Garantizar una alta cobertura de fallos (cortocircuitos, interrupciones, valores de los componentes) y compatibilidad con pruebas de escaneo de límites o sin vectores para los nodos inaccesibles.
Velocidad de prueba / rendimiento: Las pruebas paramétricas de alta velocidad y las mediciones en paralelo reducen el tiempo de ciclo en la fabricación de grandes volúmenes.
Automatización e integración: Los sistemasde Keysight Technologies se integran con líneas automatizadas y herramientas de análisis de la Industria 4.0 para fábricas de todo el mundo.
Compatibilidad de los soportes: Los soportes de «cama de clavos» deben ajustarse al diseño de la placa de circuito impreso y a las limitaciones de accesibilidad y coste.
Consideraciones actuales: Combinar las TIC con la inspección óptica automática (AOI) o las pruebas funcionales para subsanar las deficiencias de cobertura y hacer frente a los diseños complejos.
Las pruebas en circuito (ICT), incluidas las soluciones de Keysight Technologies, detectan numerosos defectos de fabricación a nivel de componentes. Entre sus principales capacidades se incluyen:
Defectos detectables:
Cortocircuitos, circuitos abiertos y componentes faltantes
Valores incorrectos de los componentes (R, L, C)
Problemas de polaridad u orientación (diodos, condensadores, circuitos integrados)
Fallo básico de un semiconductor
Limitaciones / retos actuales:
Acceso limitado en placas de circuito impreso de alta densidad o paso fino
Cobertura reducida para BGA, paquetes apilados y circuitos de RF
Métodos complementarios:
AOI/AXI para soldaduras y uniones ocultas
Prueba funcional para la validación a nivel del sistema
Escaneo de límites para nodos inaccesibles
Los sistemas de TIC de Keysight Technologies se utilizan ampliamente en plantas de fabricación de todo el mundo, a menudo en combinación con estos métodos para lograr una cobertura total.
La prueba de «cama de clavos» y la prueba con sonda móvil son dos métodos de prueba y inspección (ICT) que se utilizan en entornos de fabricación a nivel mundial. Keysight Technologies ofrece soporte para ambos mediante sistemas ICT, dispositivos de sujeción y software.
ICT «cama de clavos»:
Utiliza accesorios específicos con clavijas de resorte que entran en contacto con todos los puntos de prueba al mismo tiempo
Alta velocidad, amplia cobertura, ideal para la producción a gran escala
Mayor coste inicial del equipamiento
Prueba de circuito integrado con sonda móvil:
Utiliza sondas móviles, sin necesidad de fijaciones
Menor coste, flexibilidad para prototipos y tiradas de bajo volumen
Menor velocidad de prueba y menor rendimiento
Cuándo utilizarlo:
Cama de clavos: diseños robustos, producción en serie (plantas en Norteamérica, Europa y Asia)
Sonda móvil: NPI, cambios frecuentes en el diseño
Consideraciones actuales:
Las placas de circuito impreso complejas pueden requerir pruebas complementarias de inspección óptica automática (AOI) o pruebas funcionales para garantizar una cobertura completa
Las pruebas en circuito (ICT) se integran en la Industria 4.0 al permitir una fabricación automatizada basada en datos. Los sistemas, los soportes y el software de pruebas en circuito de Keysight Technologies están diseñados para entornos de fábricas inteligentes que se utilizan en todo el mundo.
Integración de la automatización:
Integración perfecta con líneas de montaje de componentes superficiales (SMT), manipuladores y sistemas MES
Ofrece soporte para la fabricación sin supervisión en Norteamérica, Europa y Asia
Datos y análisis:
El software de Keysight Technologies ofrece diagnóstico en tiempo real, análisis de rendimiento y trazabilidad
Permite el mantenimiento predictivo y la optimización de procesos
Conectividad:
Interfaces estándar para el IIoT, la nube y las redes de fábrica
Retos actuales:
Los circuitos impresos complejos requieren combinar la inspección por circuito integrado (ICT) con la inspección óptica automática (AOI), la inspección por rayos X (AXI) y las pruebas funcionales
La integración de datos entre sistemas sigue siendo fundamental para aprovechar todo su potencial
La cobertura de las pruebas, el diseño de los soportes y los costes en las pruebas de conexión (ICT) dependen de los requisitos de diseño y fabricación de las placas de circuito impreso (PCB). Los sistemas, soportes y software de pruebas de conexión (ICT) de Keysight Technologies ayudan a optimizar estos equilibrios en fábricas de todo el mundo.
Diseño de placas de circuito impreso y accesibilidad:
La densidad de los puntos de prueba, el tamaño de las almohadillas y la separación entre componentes influyen en la cobertura que se puede alcanzar.
Complejidad del calendario:
Los dispositivos de «lecho de clavos» aumentan la cobertura y la velocidad, pero suponen un coste inicial y un mayor mantenimiento.
Requisitos de cobertura:
Una mayor cobertura de fallos (analógicos, digitales y de RF) puede requerir funciones avanzadas de los sistemasde Keysight Technologies.
Volumen de producción:
Los grandes volúmenes justifican la inversión en utillaje; los volúmenes reducidos favorecen los enfoques flexibles.
Retos actuales:
Las placas de circuito impreso (PCB) y los BGA de alta densidad limitan el acceso, lo que requiere el uso de pruebas complementarias de tipo boundary scan o funcionales.