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Analizadores de parámetros
Sistemas todo en uno para la caracterización de dispositivos
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Analizadores de corriente-voltaje
Sistemas de medición IV para la caracterización de dispositivos
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Soluciones de pruebas paramétricas
Sistemas de prueba a nivel de oblea para la validación paramétrica
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Analizador de dispositivos de potencia / Trazador de curvas
Pruebas de alta potencia para dispositivos de Si, SiC y GaN
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Femto/picoamperímetros y electrómetros
Instrumentos para medir corrientes ultrabajas y resistencias altas.
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Arquitectura universal de procesamiento de señales
Plataforma de prototipado en tiempo real para el desarrollo de silicio.
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Matriz de conmutación de baja fuga
Conmutación de alto aislamiento para enrutamiento de corriente ultrabaja
Analizadores de parámetros
Los analizadores de parámetros de Keysight proporcionan una caracterización completa de los dispositivos semiconductores en una única plataforma integrada. Estos sistemas modulares, que combinan pruebas precisas de corriente-voltaje (IV) y capacitancia-voltaje (CV), mediciones pulsadas y pruebas de fiabilidad, son compatibles con una amplia gama de dispositivos, desde materiales avanzados hasta componentes de alta potencia. Con una precisión de medición líder en el sector, opciones de configuración flexibles y un control de software intuitivo, los analizadores de parámetros de Keysight ayudan a acelerar la investigación, el desarrollo y la cualificación de los dispositivos. ¿Necesita ayuda para seleccionar? Consulte los recursos que se indican a continuación.
Analizadores de corriente-voltaje
Los analizadores de corriente-voltaje de Keysight ofrecen capacidades precisas y de bajo ruido de suministro y medición, esenciales para la caracterización de dispositivos semiconductores y la investigación de materiales. Diseñados para manejar una amplia gama de niveles de corriente y voltaje, desde corrientes de femtoamperios hasta barridos de alto voltaje, estos analizadores proporcionan mediciones precisas y repetibles en diversas aplicaciones. Con configuraciones multicanal flexibles y un control de software intuitivo, los analizadores IV de Keysight ayudan a acelerar el desarrollo de dispositivos, las pruebas de fiabilidad y la optimización de procesos. ¿Necesita ayuda para seleccionar? Consulte los recursos que se indican a continuación.
Soluciones de pruebas paramétricas
Las soluciones de pruebas paramétricas de Keysight combinan instrumentos de medición de alto rendimiento con una automatización flexible para acelerar la evaluación de los dispositivos semiconductores, desde las primeras fases de desarrollo hasta la producción a gran escala. Estos sistemas escalables, que ofrecen pruebas precisas de corriente-voltaje (IV), capacitancia-voltaje (CV) y fiabilidad, ayudan a optimizar el rendimiento de los dispositivos, supervisar la variabilidad de los procesos y garantizar la fiabilidad a largo plazo. Diseñadas para integrarse perfectamente con los probadores de obleas y los entornos de producción, las soluciones paramétricas de Keysight ofrecen la precisión, la velocidad y la eficiencia necesarias para las tecnologías avanzadas de semiconductores actuales. ¿Necesita ayuda para seleccionar? Consulte los recursos que se indican a continuación.
Analizador de dispositivos de potencia / Trazador de curvas
Los analizadores de dispositivos de potencia y trazadores de curvas de Keysight son soluciones diseñadas específicamente para evaluar y caracterizar dispositivos semiconductores de alta tensión y alta corriente. Estos sistemas, que combinan una fuente precisa, mediciones rápidas y análisis exhaustivos, admiten pruebas críticas para transistores de potencia, diodos, IGBT y dispositivos de banda ancha como SiC y GaN. Con rangos de voltaje y corriente escalables, funciones de seguridad integradas y un software intuitivo, las soluciones de Keysight ayudan a acelerar el desarrollo, mejorar la fiabilidad de los dispositivos y optimizar las pruebas de producción. ¿Necesita ayuda para seleccionar? Consulte los recursos que se indican a continuación.
Femto/picoamperímetros y electrómetros
Los femto/picoamperímetros y electrómetros de Keysight ofrecen una sensibilidad líder en el sector para medir corrientes extremadamente bajas, resistencias altas y voltajes bajos en materiales avanzados y dispositivos semiconductores. Con capacidades de medición de hasta 0,01 fA y análisis gráfico integrado, estos instrumentos proporcionan un rendimiento preciso, estable y resistente al ruido para aplicaciones exigentes, como pruebas de corriente de fuga, resistencia de aislamiento y caracterización de corriente ultrabaja. Diseñados tanto para banco como para integración en sistemas, los electrómetros de precisión de Keysight ayudan a acelerar la investigación, el desarrollo de dispositivos y el control de calidad. ¿Necesita ayuda para seleccionar? Consulte los recursos que se indican a continuación.
Arquitectura universal de procesamiento de señales
La arquitectura universal de procesamiento de señales (USPA) de Keysight ofrece un entorno en tiempo real de alto rendimiento, modular y totalmente programable para la creación rápida de prototipos y la validación específicos para cada aplicación. Basada en los convertidores de datos ADC3 y DAC3 líderes en el sector y en el procesamiento de señales digitales basado en FPGA, la plataforma USPA permite a los ingenieros iterar y verificar rápidamente los diseños, lo que reduce el riesgo, el tiempo de desarrollo y los costes. Es compatible con aplicaciones que abarcan la creación de prototipos de SoC/ASIC, 6G, comunicaciones ópticas, radares e investigación física avanzada. ¿Necesita ayuda para elegir? Consulte los recursos que se indican a continuación.
Matriz de conmutación de baja fuga
Las matrices de conmutación de baja fuga de Keysight están diseñadas para pruebas automatizadas de semiconductores que exigen mediciones de corriente ultrabaja y un alto rendimiento de aislamiento. Diseñadas para mantener la integridad de la señal a niveles de femtoamperios, estas matrices de conmutación permiten una conmutación fluida entre múltiples dispositivos o nodos de prueba sin comprometer la precisión de la medición. Con configuraciones flexibles, factores de forma compactos y fácil integración con los analizadores de Keysight, son ideales para pruebas paramétricas, estudios de fiabilidad y caracterización a nivel de oblea. ¿Necesita ayuda para seleccionar? Consulte los recursos que se indican a continuación.
Explore las pruebas de doble pulso de alto voltaje.
La validación de dispositivos de potencia de última generación requiere herramientas que ofrezcan una conmutación rápida, una sincronización precisa y una seguridad robusta en condiciones extremas. El analizador de dispositivos de potencia/trazador de curvas de Keysight está diseñado específicamente para la caracterización dinámica de transistores de SiC y GaN, lo que permite una medición precisa de la pérdida de conmutación, la resistencia dinámica y los efectos parásitos. Con un control totalmente integrado, funciones de protección incorporadas y capacidades de alto voltaje, ayuda a los ingenieros a replicar las condiciones de estrés del mundo real y acelerar el desarrollo de convertidores de potencia de forma segura y fiable.
Encuentre software y accesorios compatibles para su solución de pruebas de semiconductores.
Elija entre una amplia variedad de software o accesorios específicos para pruebas, control y aplicaciones, como cableado de baja fuga, conectores triaxiales, extensores de interruptores blindados, interfaces de sondas para obleas y mucho más.
Explorer casos de uso de semiconductores
Las soluciones semiconductoras admiten una amplia gama de aplicaciones en diversos sectores. Descúbralas todas.
Semiconductor
Caracterización de semiconductores WBG con prueba de doble pulso.
Semiconductor
Caracterización de módulos de potencia semiconductores WBG mediante tecnología de sonda con aislamiento de impulsos real.
Semiconductor
Caracterización de circuitos integrados de baja potencia con una unidad de medición de fuente.
Semiconductor
Evaluación de las características de los LED IV utilizando una unidad de fuente/medición.
Semiconductor
Eliminación de elementos que provocan errores durante las mediciones de resistencia.
Servicios y asistencia
Innovar rápidamente con planes de asistencia personalizados y tiempos de respuesta y resolución priorizados.
Obtenga suscripciones predecibles basadas en arrendamiento y soluciones completas de gestión del ciclo de vida, para que pueda alcanzar sus objetivos empresariales más rápidamente.
Disfrute de un servicio superior como suscriptor de KeysightCare y obtenga una respuesta técnica comprometida y mucho más.
Asegúrese de que su sistema de pruebas funcione según las especificaciones y cumpla con las normas locales y globales.
Realice mediciones rápidamente con formación interna impartida por instructores y aprendizaje electrónico.
Descargue el software de Keysight o actualice su software a la versión más reciente.
Preguntas más frecuentes
Las pruebas de semiconductores abarcan una amplia gama de dispositivos, cada uno con sus propios requisitos específicos. Esto incluye componentes básicos como transistores (por ejemplo, transistores de efecto de campo de óxido metálico y semiconductor [MOSFET] y transistores bipolares de puerta aislada [IGBT]), así como diodos, rectificadores y dispositivos de potencia utilizados en la conversión de energía. Los circuitos integrados (IC), incluidas las variantes analógicas y digitales, también exigen una caracterización eléctrica precisa para garantizar su rendimiento y fiabilidad. Además, los sensores (como los sensores de temperatura, presión y ópticos) requieren configuraciones de prueba especializadas debido a su sensibilidad y a los requisitos específicos de cada aplicación.
Con el auge de los materiales avanzados, los semiconductores de banda ancha como el carburo de silicio (SiC) y el nitruro de galio (GaN) han cobrado cada vez más importancia en aplicaciones de alta potencia y alta frecuencia, lo que requiere enfoques de prueba más sofisticados. Cada una de estas categorías de dispositivos tiene comportamientos eléctricos y físicos únicos. Por ejemplo, corrientes de fuga a niveles de nanoamperios o picoamperios, cambios de capacitancia con el voltaje o características de ruptura por alto voltaje. Por lo tanto, las soluciones especializadas de prueba y medición son fundamentales para capturar con precisión el comportamiento de corriente-voltaje (I-V), la capacitancia, las fugas, la dinámica de conmutación y la fiabilidad en una amplia gama de condiciones ambientales y operativas.
Muchos dispositivos semiconductores, especialmente los que se utilizan en aplicaciones de baja potencia, precisión o de última generación, funcionan con niveles de corriente extremadamente bajos, a veces en el rango de los femtoamperios (fA) o picoamperios (pA). A tales escalas, incluso cantidades mínimas de corriente de fuga o interferencias eléctricas parásitas del propio sistema de prueba pueden distorsionar los resultados, lo que da lugar a una caracterización inexacta. Las matrices de conmutación de baja fuga están diseñadas para minimizar las corrientes no deseadas que podrían enmascarar el comportamiento real del dispositivo sometido a prueba, mientras que las rutas de medición de alto aislamiento evitan la diafonía o el acoplamiento de ruido entre las señales. Estas características son especialmente importantes para caracterizar dispositivos sensibles como sensores, para probar materiales avanzados de banda ancha (SiC, GaN) o para realizar pruebas de fiabilidad y estrés a largo plazo en las que es esencial realizar mediciones estables y repetibles. Sin un rendimiento de baja fuga y alto aislamiento, los ingenieros corren el riesgo de sacar conclusiones incorrectas sobre las propiedades de los dispositivos, lo que podría afectar a la calidad del diseño, la seguridad y el cumplimiento de las normas de aplicación.
La caracterización de los dispositivos semiconductores suele implicar una serie de técnicas de medición complementarias, cada una de las cuales se centra en parámetros eléctricos o físicos específicos. Las mediciones de corriente-voltaje (I-V) constituyen la base, ya que proporcionan información sobre la conducción, los voltajes umbral, el comportamiento de fuga y las características de ruptura en un amplio rango de voltajes. Las mediciones de capacitancia-voltaje (C-V) son igualmente importantes, ya que ofrecen datos sobre los perfiles de concentración de dopaje, la calidad del óxido y las propiedades de la unión. Las mediciones pulsadas se emplean a menudo para dispositivos de alta potencia o sensibles al calor, ya que proporcionan breves ráfagas de energía para evitar la degradación del dispositivo sin dejar de capturar el comportamiento dinámico.
Las técnicas de pruebas de estrés de fiabilidad, como la vida útil a alta temperatura (HTOL), los ciclos térmicos y las evaluaciones de inestabilidad de temperatura de polarización (BTI), se utilizan para simular el funcionamiento a largo plazo e identificar posibles mecanismos de degradación del rendimiento. En algunos casos, también se requieren métodos avanzados como el análisis de respuesta transitoria, la ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) o la caracterización de radiofrecuencia (RF), dependiendo de la aplicación objetivo. En conjunto, estas técnicas proporcionan una comprensión completa del rendimiento, la robustez y la idoneidad para su implementación de un semiconductor.
La automatización es una piedra angular de las pruebas modernas de semiconductores, especialmente en entornos de fabricación de gran volumen o laboratorios de investigación que se ocupan de la caracterización compleja de múltiples dispositivos. Al aprovechar las estaciones de sonda automatizadas, los manipuladores robóticos y la secuenciación de pruebas controlada por software, las organizaciones pueden aumentar significativamente el rendimiento, reducir los errores de los operadores y garantizar la repetibilidad constante de las mediciones en grandes conjuntos de datos.
La automatización también admite funciones avanzadas, como la comprobación de obleas sin supervisión, en la que se pueden probar cientos o miles de dispositivos durante la noche, así como pruebas por lotes automatizadas para dispositivos empaquetados. En las pruebas de fiabilidad, la automatización permite una supervisión continua y a largo plazo del estrés sin intervención humana, lo que garantiza la detección temprana de desviaciones en el rendimiento. Además, los sistemas automatizados facilitan la integración y el análisis de datos, lo que permite a los ingenieros identificar rápidamente las tendencias, mejorar los modelos de dispositivos y acelerar los ciclos de desarrollo de productos. En resumen, la automatización no solo mejora la eficiencia y la productividad, sino que también garantiza el control de calidad y el cumplimiento de rigurosas normas industriales a gran escala.
La industria de los semiconductores se caracteriza por una rápida innovación, impulsada por nuevos materiales, arquitecturas de dispositivos avanzadas y requisitos de aplicación emergentes. Para seguir siendo eficaces, los sistemas de prueba deben ser flexibles y escalables. Las plataformas modulares permiten a los ingenieros ampliar la capacidad de conmutación, añadir nuevos módulos de medición o integrar metodologías de prueba emergentes sin necesidad de sustituir por completo el sistema.
Por ejemplo, a medida que los semiconductores de banda ancha, como el carburo de silicio (SiC) y el nitruro de galio (GaN), se vuelven más frecuentes en los vehículos eléctricos y los sistemas de energía renovable, los sistemas de prueba deben incorporar capacidades para manejar voltajes más altos, conmutaciones más rápidas y condiciones térmicas más exigentes. Del mismo modo, para los dispositivos de comunicación y computación de próxima generación, el análisis transitorio de alta velocidad y las pruebas de radiofrecuencia (RF) son cada vez más esenciales.
La adaptabilidad también se extiende al software. Los sistemas de prueba modernos deben ser compatibles con los estándares, formatos de datos y marcos de automatización en constante evolución para garantizar una integración fluida en los flujos de trabajo de desarrollo. Al mantener la escalabilidad y la capacidad de actualización, los sistemas de prueba de semiconductores protegen el valor de la inversión y se adaptan a la evolución continua de los dispositivos y las aplicaciones.