Tester l'avenir de la technologie des semi-conducteurs

Offre des conseils de conception complets, une assistance pour les conceptions non linéaires et des outils d'optimisation pour améliorer le rendement. et des outils d'optimisation pour améliorer le rendement.

Facilite l'analyse, la simulation et l'optimisation efficaces des circuits RF et micro-ondes pour des conceptions de haute performance.

Intègre des simulateurs FEM 3D planaires et complets pour garantir l'intégrité de la conception tout au long du processus.

Intègre les données thermiques dans les simulations de circuits et détecte les problèmes de fiabilité dans les caractéristiques à l'échelle submicronique.

Permet des simulations électromagnétiques 3D précises pour une conception efficace sans prototypes physiques.

Optimise la conception RFIC grâce à des solveurs et des bibliothèques avancés, garantissant la précision de la modélisation, de la simulation et de l'efficacité.

Offre des simulations rapides, une précision proche du circuit et une intégration transparente pour travailler sur des systèmes RF complexes. pour travailler sur des systèmes RF complexes.

Extraction de modèles compacts précis utilisés dans les applications RF à haute vitesse/numériques, analogiques et de puissance.

Prend en charge les modèles standard et propose des packages d'extraction automatique pour la modélisation de dispositifs en silicium.

Permet la validation et la comparaison des modèles SPICE, en générant des rapports d'assurance qualité en un seul clic.

Offre une caractérisation des dispositifs avec des outils de traitement des données pour les mesures de bruit à basse fréquence.

Permet une flexibilité de conception pour répondre à des besoins de performance spécifiques grâce à des options standard et configurables.

Fournit une solution intégrée pour les capacités de test optique/électrique pour le sondage entièrement automatisé des plaquettes de silicium.

Permet de construire son propre testeur paramétrique de série à parallèle.

Permet des contacts sans soudure et une véritable sonde d'isolement des impulsions.

Offre des mesures IV à haute résolution et des résultats rapides avec une interface conviviale.

Fournit la précision nécessaire pour répondre aux tests paramétriques, de fiabilité et de caractérisation des semi-conducteurs.

Fournit 20 canaux SMU dans un espace de rack 1U et s'adapte à une large gamme d'exigences d'application.

Caractérise les dispositifs de haute puissance et prend en charge diverses mesures de tension, de courant et de capacité.

Intégration avec PathWave WaferPro pour automatiser le contrôle du palpage des wafers en collaboration avec FormFactor.

Identifie et analyse les signaux et événements anormaux intermittents de la forme d'onde que l'analyse manuelle ne permet pas.

Permet une caractérisation précise des récepteurs des dispositifs à une ou plusieurs voies fonctionnant jusqu'à 16 ou 32 Gb/s.

Elle offre des performances de R&D jusqu'à 53 GHz, une flexibilité de test avancée et une caractérisation complète des dispositifs.

Permet de tester les normes 400 GbE en prenant en charge les signaux PAM4 et NRZ avec des transitions rapides et une faible gigue.

Découvrez une solution de contrôle capacitif non destructif qui permet d'identifier avec précision les défauts dans les microélectroniques liées par des fils.