Analyseur de dispositifs de puissance / Traceur de courbes Tests haute puissance pour les dispositifs Si, SiC et GaN

• Mesure fiable et reproductible des caractéristiques dynamiques des semi-conducteurs de puissance à large bande interdite (SiC, GaN) pour les dispositifs discrets et les modules de puissance.
• Les caractéristiques mesurées comprennent l'activation, la désactivation, la commutation, la récupération inverse, la charge de grille et bien d'autres encore.
• Sonde isolée True Pulse pour mesurer le dispositif côté haut d'un module de puissance.
• Technologie de contact sans soudure pour des résultats reproductibles et fiables sans soudure.
• Environnement de test sécurisé tant pour le dispositif sous test que pour l'utilisateur.
• Plateforme modulaire personnalisable, extensible et évolutive permettant de tester tous les dispositifs d'alimentation.

En tant que solution de mesure prête à l'emploi, le PD1550A fournit des mesures fiables et reproductibles des modules de puissance à semi-conducteurs à large bande interdite. La plate-forme garantit la sécurité des utilisateurs et la protection du matériel de mesure du système. La capacité à garantir des résultats reproductibles et fiables pour les tests à double impulsion (DPT) repose sur plus de 80 ans d'expertise de Keysight dans le domaine des sciences de la mesure. Fort de l'expérience acquise en travaillant en étroite collaboration avec ses clients et les organismes de normalisation sur le PD1500A, Keysight aide désormais ses clients à relever les défis liés à la caractérisation dynamique des modules de puissance WBG. Citons par exemple les innovations en matière de tests haute fréquence (gamme gigahertz), de faible fuite (gamme femtoampère) et de puissance pulsée (courant de 1 500 A, résolution de 10 μs). Keysight occupe ainsi une position unique pour vous aider à relever les défis de la caractérisation dynamique des semi-conducteurs de puissance.

Le PD1550A intègre des techniques de mesure avancées standard telles que la compensation de sonde, le réglage du décalage, la correction du décalage et la suppression du bruit en mode commun. Ces techniques sont utilisées dans le cadre d'une topologie et d'une configuration de mesure innovantes. Une routine d'étalonnage semi-automatisée (AutoCal) qui corrige les erreurs de gain et de décalage du système a été spécialement développée pour ce système. Le système utilise également des techniques de désimbrication pour compenser les parasites inductifs dans le shunt de courant. La technologie True Pulse Isolate Probe pour des mesures Vgs précises côté haut et la technologie de contact sans soudure permettent des mesures fiables et reproductibles sans avoir à souder de grands plots de contact.

Le Joint Electron Device Engineering Council (JEDEC) est le leader mondial dans le développement de normes ouvertes et de publications pour l'industrie microélectronique. Les comités du JEDEC jouent un rôle de premier plan dans l'élaboration de normes pour un large éventail de technologies.

Comité JEDEC : JC-70 Semi-conducteurs de conversion électronique de puissance à large bande interdite
Les normes JEDEC ont reconnu la nécessité de fournir des normes WBG pour l'industrie des semi-conducteurs de puissance. En septembre 2017, le comité JC70 sur les semi-conducteurs à large bande interdite pour la conversion électronique de puissance a été créé pour le GaN JC70.1 et le SiC JC-70.2. Chaque section compte trois groupes de travail qui se concentrent respectivement sur les procédures de fiabilité et de qualification, les éléments et paramètres des fiches techniques, et les méthodes de test et de caractérisation.

Keysight participe activement à l'élaboration de ces normes.

Alors que le JEDEC continue de définir les tests dynamiques des dispositifs WBG, certains tests standardisés commencent à voir le jour. Le PD1500A DPT de Keysight détermine les paramètres de performance clés suivants :

• Caractéristiques d'activation
• Caractéristiques de coupure
• Résistance dynamique à l'enclenchement
• Courant et tension dynamiques
• Caractéristiques de commutation