Leistungsbauelementanalysator / Kennlinienschreiber Hochleistungsprüfung für Si-, SiC- und GaN-Bauelemente

• Zuverlässige und wiederholbare Messung der dynamischen Eigenschaften von Leistungshalbleitern mit großem Bandabstand (SiC, GaN) für diskrete Bauelemente und Leistungsmodule.
• Zu den gemessenen Eigenschaften gehören Ein- und Ausschalten, Schaltvorgänge, Rückwärtserholung, Gate-Ladung und viele andere.
• Echte Pulsisolationssonde zur Messung des High-Side-Bauelements eines Leistungsmoduls.
• Lötfreie Kontakttechnologie für wiederholbare, zuverlässige Ergebnisse ohne Löten.
• Sichere Testumgebung sowohl für das Prüfobjekt als auch für den Benutzer.
• Eine anpassbare, erweiterbare, aufrüstbare, modulare Plattform ermöglicht das Testen aller Leistungselektronikgeräte.

Als sofort verfügbare Messlösung liefert das PD1550A zuverlässige und reproduzierbare Messungen an Leistungshalbleitermodulen mit großem Bandabstand. Die Plattform gewährleistet Anwendersicherheit und schützt die Messhardware des Systems. Die Fähigkeit, reproduzierbare und zuverlässige Ergebnisse beim Doppelpulstest (DPT) zu erzielen, basiert auf Keysights über 80-jähriger Erfahrung in der Messtechnik. Dank der engen Zusammenarbeit mit Kunden und Normungsorganisationen mit dem PD1500A unterstützt Keysight Kunden nun bei der Bewältigung der Herausforderungen der dynamischen Charakterisierung von Leistungshalbleitermodulen mit großem Bandabstand. Beispiele hierfür sind Innovationen bei Hochfrequenzmessungen (Gigahertz-Bereich), Messungen geringer Leckströme (Femtoampere-Bereich) und gepulster Leistung (1.500 A Strom, 10 µs Auflösung). Damit ist Keysight bestens aufgestellt, um Sie bei der dynamischen Charakterisierung von Leistungshalbleitern zu unterstützen.

Der PD1550A umfasst standardmäßige, fortschrittliche Messtechniken wie Tastkopfkompensation, Offsetkorrektur, Entzerrung und Gleichtaktunterdrückung. Diese Techniken werden in einer innovativen Messtopologie und einem optimierten Layout eingesetzt. Eine halbautomatische Kalibrierungsroutine (AutoCal) zur Korrektur von Systemverstärkungs- und Offsetfehlern wurde speziell für dieses System entwickelt. Das System nutzt zudem De-Embedding-Verfahren zur Kompensation induktiver Parasiten im Stromshunt. Die True Pulse Isolate Probe-Technologie für präzise High-Side-Vgs-Messungen und die lötfreie Kontakttechnologie ermöglichen wiederholbare und zuverlässige Messungen ohne das Löten großer Kontaktflächen.

Der Joint Electron Device Engineering Council (JEDEC) ist weltweit führend in der Entwicklung offener Standards und Publikationen für die Mikroelektronikindustrie. JEDEC-Komitees übernehmen eine führende Rolle in der Entwicklung von Standards für ein breites Technologiespektrum.

JEDEC-Komitee: JC-70 Leistungselektronische Halbleiter mit großem Bandabstand
Die JEDEC-Standards erkannten den Bedarf an WBG-Standards für die Leistungshalbleiterindustrie. Im September 2017 wurde das Komitee JC70 für Halbleiter mit großem Bandabstand (Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductor) für GaN (JC70.1) und SiC (JC-70.2) gegründet. Jeder Abschnitt umfasst drei Arbeitsgruppen, die sich mit Zuverlässigkeits- und Qualifizierungsverfahren, Datenblattelementen und -parametern sowie Test- und Charakterisierungsmethoden befassen.

Keysight beteiligt sich aktiv an der Entwicklung dieser Standards.

Während JEDEC die dynamischen Prüfverfahren für WBG-Bauteile weiter definiert, zeichnen sich erste standardisierte Tests ab. Der Keysight PD1500A DPT ermittelt folgende wichtige Leistungsparameter:

• Einschalteigenschaften
• Abschaltcharakteristik
• Dynamischer Einschaltwiderstand
• Dynamischer Strom und Spannung
• Schaltcharakteristik