お探しのページはこちらでしょうか. その他の検索結果:

主な特長

  • 個別素子やパワーモジュールのワイドバンドギャップ（SiC、GaN）パワー半導体のダイナミック特性を高い信頼性と再現性で測定。
  • 測定項目にはターンオン、ターンオフ、スイッチング、逆回復、ゲート電荷、その他多数を含む。
  • True Pulse Isolated Probe技術を用いたパワーモジュールのハイサイドデバイスを測定。
  • はんだ付けを必要としないソルダーレスコンタクト技術で、再現性と信頼性の高い結果を実現。
  • DUTとユーザーの両方に安全なテスト環境。
  • カスタマイズ、拡張、アップグレードが可能なモジュラープラットフォームにより、すべてのパワーデバイスのテストが可能。

市販の測定ソリューションとしてPD1550Aは、ワイドバンドギャップ半導体パワーモジュールの信頼性と再現性の高い測定を提供します。 このプラットフォームは、ユーザーの安全性とシステムの測定ハードウェアの保護を保証します。 再現性と信頼性の高いダブル・パルス・テスト(DPT)の結果を保証する能力は、キーサイトの80年以上にわたる測定科学の専門知識に基づいて構築されています。 PD1500Aでお客様や規格化団体と密接に協力して得た経験をもとに、キーサイトは現在、お客様がWBGパワーモジュールのダイナミック特性評価における課題を克服するお手伝いをしています。 例えば、高周波テスト（GHzレンジ）、低リーケージ（fAレンジ）、パルスドパワー（1,500 A電流、10 μs分解能）の革新が挙げられます。 キーサイト独自の視点から、パワー半導体のダイナミック特性評価で直面する問題を解消するお手伝いをします。

PD1500Aは、プローブ補正、オフセット調整、スキュー補正、コモン・モード・ノイズ除去などの標準的な測定手法を搭載しています。 これらの手法は画期的な測定トポロジーとレイアウトで活用されます。 また、このシステムのために特別に開発された半自動の校正ルーチン(AutoCal)により、システムの利得とオフセット誤差が補正できます。 それだけでなく、ディエンベディング手法を用いて、電流シャントの誘導性寄生成分も補正できます。 True Pulse Isolated Probe技術による正確なハイサイドVgs測定とソルダーレスコンタクト技術により、大きなコンタクトパッドをはんだ付けすることなく、信頼性の高い測定を再現することができます。

Joint Electron Device Engineering Council(JEDEC)は、マイクロエレクトロニクス業界向けのオープン標準の策定と出版を行うグローバルな団体です。 JEDEC委員会は、幅広い技術の規格の開発において、業界をリードしています。

JEDEC委員会：JC-70 Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductors
JEDEC規格では、パワー半導体業界向けにWBG規格を提供する必要性が認識されました。 2017年9月に、GaN JC-70.1とSiC JC-70.2のためのJC-70 Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductors委員会が設立されました。それぞれのセクションには3つのタスクグループがあり、信頼性と品質保証の手順、データシート要素とパラメータ、テストと特性評価方法に焦点を絞って作業を行っています。

キーサイトは、これらの規格の開発に積極的に参加しています。

JEDECが継続してWBGデバイスの動的テストを定義している中で、標準化されたいくつかのテストの提供が始まっています。 キーサイトPD1500A DPTは、以下の主要な性能パラメータを判断します：

  • ターンオン特性
  • ターンオフ特性
  • 動的なオン抵抗
  • 動的な電流と電圧
  • スイッチング特性

主な仕様

データシートのダウンロード
最大出力電流
3000 A
Number of Channels
n/a
最小電流測定分解能
10 fA
最大出力電流
Number of Channels
最小電流測定分解能
3000 A
n/a
10 fA
さらに表示
最大出力電流:
3000 A
最小電流測定分解能:
10 fA
Number of Channels:
n/a
タイプ:
Power Device Analyzer
Double Pulse Tester

ダブル・パルス・テスター／ アドバンスド・ダイナミック・パワー・デバイス・アナライザの機能を拡張

ソフトウェア
すべてのソフトウェアを表示
サービス
すべてのサービスを表示
サポート
すべてのサポートを表示

注目のリソース

データシート 2022.05.04

PD1550Aシリーズ　アドバンスト・ダイナミック・パワーデバイス・アナライザ　パワーモジュール用ダブル・パルス・テスタ(DPT)

PD1550Aシリーズ　アドバンスト・ダイナミック・パワーデバイス・アナライザ　パワーモジュール用ダブル・パルス・テスタ(DPT)

本データシートでは、電気自動車、太陽光発電インバータ、その他のパワー・コンバータなど、自動車やエネルギー・アプリケーションの重要なパワー・コンバータ・アプリケーション用のワイドバンド・ギャップ半導体ベースのパワー・モジュールのテストに使用する、PD1550Aアドバンスト・パワー・デバイス・アナライザ/ダブルパルス・テスタ（DPT）ソリューションについて説明します。

2022.05.04

Technical Overviews 2021.02.22

Customized GaN Solutions for Double-Pulse Test

Customized GaN Solutions for Double-Pulse Test

Achieve repeatable, reliable characterization of GaN power semiconductors with Keysight’s customized, proprietary GaN test boards.

2021.02.22

すべてのリソースを表示

すべてのリソースを表示

関連製品

PD1500Aダイナミック・パワー・デバイス・アナライザ／ダブル・パルス・テスター

PD1500Aダイナミック・パワー・デバイス・アナライザ／ダブル・パルス・テスター

PD1500Aはキーサイト製の測定ソリューションとして、ワイドバンドギャップ半導体に対し信頼性と再現性の高い測定を可能にします。 また、このシステムではユーザーと測定ハードウェアの安全が確保されます。

PD1000Aアドバンスドモデリング用パワーデバイス測定システム

PD1000Aアドバンスドモデリング用パワーデバイス測定システム

実環境のパワー・デバイス・モデルを作成し、設計サイクルを短縮し、信頼できるシミュレーションを実現します。

B1506A 回路デザイン用パワー・デバイス・アナライザ／カーブトレーサー

B1506A 回路デザイン用パワー・デバイス・アナライザ／カーブトレーサー

B1506A 回路デザイン用パワー・デバイス・アナライザ／カーブトレーサーは、広い動作条件でパワーデバイスのパラメータを評価し、パワー回路デザインの性能を改善を支援する完全なソリューションです。

ご要望、ご質問はございませんか。

お問い合わせはこちら