파워 디바이스 분석기 / 커브 트레이서: PD1550A

고급 동적 전력 디바이스 분석기 / 이중 펄스 테스터

PD1550A 이중 펄스 분석기 / 고급 전력 디바이스 분석기는 와이드 밴드갭 이중 펄스 테스트의 신뢰할 수 있고 반복 가능한 측정값을 제공합니다.

최소 전류 측정 분해능

10 fA
Number of channels

8
Supported measurements

Turn-on, Turn-off, Switching, Dynamic on-resistance, Gate charge, Reverse recovery, Dynamic voltage / current
Maximum output voltage

1500
Maximum output current

3000 A

하이라이트

개별 소자 및 전력 모듈용 와이드 밴드갭(SiC, GaN) 전력 반도체 동적 특성의 신뢰할 수 있고 반복 가능한 측정.
측정되는 특성에는 턴온, 턴오프, 스위칭, 역회복, 게이트 전하 등이 포함됩니다.
전력 모듈의 하이 사이드 디바이스 측정용 트루 펄스 절연 프로브.
납땜 없이 반복 가능하고 신뢰할 수 있는 결과를 위한 무납땜 접촉 기술.
DUT와 사용자 모두를 위한 안전한 테스트 환경.
맞춤형, 확장형, 업그레이드 가능, 모듈형 플랫폼은 모든 전력 디바이스 테스트를 가능하게 합니다.

상용 측정 솔루션인 PD1550A는 와이드 밴드갭 반도체 전력 모듈에 대한 신뢰할 수 있고 반복 가능한 측정을 제공합니다. 이 플랫폼은 사용자 안전과 시스템 측정 하드웨어 보호를 보장합니다. 반복 가능하고 신뢰할 수 있는 이중 펄스 테스트(DPT) 결과를 보장하는 기능은 키사이트의 80년 이상의 측정 과학 전문 지식을 기반으로 합니다. PD1500A를 통해 고객 및 표준 기관과 긴밀히 협력하여 얻은 경험을 바탕으로, 키사이트는 이제 고객이 WBG 전력 모듈의 동적 특성화 과제를 극복하도록 돕고 있습니다. 예시로는 고주파 테스트(기가헤르츠 범위), 낮은 누설(펨토암페어 범위) 및 펄스 전력(1,500A 전류, 10µs 분해능) 혁신이 있습니다. 결과적으로 키사이트는 동적 전력 반도체 특성화의 과제를 극복하는 데 도움을 줄 수 있는 독보적인 위치에 있습니다.

PD1550A에는 프로브 보상, 오프셋 조정, 디스큐잉, 공통 모드 노이즈 제거와 같은 표준 고급 측정 기술이 포함되어 있습니다. 이러한 기술은 혁신적인 측정 토폴로지 및 레이아웃 내에서 활용됩니다. 시스템 이득 및 오프셋 오류를 보정하는 반자동 교정 루틴(AutoCal)은 이 시스템을 위해 특별히 개발되었습니다. 또한 이 시스템은 전류 션트의 유도성 기생 성분을 보상하기 위해 디임베딩 기법을 사용합니다. 정확한 하이 사이드 Vgs 측정을 위한 트루 펄스 절연 프로브 기술과 무납땜 접촉 기술을 통해 큰 접촉 패드를 납땜할 필요 없이 반복 가능하고 신뢰할 수 있는 측정을 수행할 수 있습니다.

공동 전자 장치 엔지니어링 협의회(JEDEC)는 마이크로일렉트로닉스 산업을 위한 개방형 표준 및 간행물 개발의 글로벌 리더입니다. JEDEC 위원회는 광범위한 기술에 대한 표준 개발에 있어 업계 리더십을 제공합니다.

JEDEC 위원회: JC-70 와이드 밴드갭 전력 전자 변환 반도체
JEDEC 표준은 전력 반도체 산업을 위한 WBG 표준 제공의 필요성을 인식했습니다. 2017년 9월, GaN JC70.1 및 SiC JC-70.2를 위한 JC70 와이드 밴드갭 전력 전자 변환 반도체 위원회가 구성되었습니다. 각 섹션에는 신뢰성 및 인증 절차, 데이터시트 요소 및 매개변수, 테스트 및 특성화 방법에 중점을 둔 세 가지 태스크 그룹이 있습니다.

키사이트는 이러한 표준 개발에 적극적으로 참여하고 있습니다.

JEDEC이 WBG 디바이스의 동적 테스트를 계속 정의함에 따라 일부 표준화된 테스트가 나타나기 시작했습니다. 키사이트 PD1500A DPT는 다음과 같은 주요 성능 파라미터를 결정합니다.