Analizzatore di dispositivi di potenza / Tracciatore di curve Test ad alta potenza per dispositivi Si, SiC e GaN

• Misurazione affidabile e ripetibile delle caratteristiche dinamiche dei semiconduttori di potenza a banda larga (SiC, GaN) per dispositivi discreti e moduli di potenza.
• Le caratteristiche misurate includono accensione, spegnimento, commutazione, recupero inverso, carica del gate e molte altre.
• Sonda isolata True Pulse per la misurazione dei dispositivi high-side di un modulo di potenza.
• Tecnologia di contatto senza saldatura per risultati ripetibili e affidabili senza saldatura.
• Ambiente di prova sicuro sia per il DUT che per l'utente.
• Piattaforma modulare personalizzabile, espandibile e aggiornabile che consente di testare tutti i dispositivi di alimentazione.

Come soluzione di misura pronta all'uso, il PD1550A offre misurazioni affidabili e ripetibili dei moduli di potenza a semiconduttori a banda larga. La piattaforma garantisce la sicurezza dell'utente e la protezione dell'hardware di misura del sistema. La capacità di garantire risultati ripetibili e affidabili del Double Pulse Test (DPT) si basa su oltre 80 anni di esperienza di Keysight nella scienza della misura. Grazie all'esperienza acquisita lavorando a stretto contatto con i clienti e gli organismi di normazione con il PD1500A, Keysight sta ora aiutando i clienti a superare le sfide della caratterizzazione dinamica dei moduli di potenza WBG. Ne sono un esempio le innovazioni nei test ad alta frequenza (gamma gigahertz), bassa dispersione (gamma femtoampere) e potenza pulsata (corrente 1.500 A, risoluzione 10 μs). Di conseguenza, Keysight è in una posizione privilegiata per aiutarti a superare le sfide della caratterizzazione dinamica dei semiconduttori di potenza.

Il PD1550A include tecniche di misurazione avanzate standard quali compensazione della sonda, regolazione dell'offset, de-skewing e reiezione del rumore di modo comune. Queste tecniche sono utilizzate all'interno di una topologia e un layout di misurazione innovativi. Una routine di calibrazione semi-automatica (AutoCal) che corregge gli errori di guadagno e offset del sistema è stata sviluppata appositamente per questo sistema. Il sistema utilizza anche tecniche di de-embedding per compensare i parassiti induttivi nello shunt di corrente. La tecnologia True Pulse Isolate Probe per misurazioni accurate dell'Vgs high-side e la tecnologia di contatto senza saldatura consentono misurazioni ripetibili e affidabili senza dover saldare grandi pad di contatto.

Il Joint Electron Device Engineering Council (JEDEC) è leader mondiale nello sviluppo di standard aperti e pubblicazioni per l'industria microelettronica. I comitati JEDEC forniscono una leadership industriale nello sviluppo di standard per un'ampia gamma di tecnologie.

Comitato JEDEC: JC-70 Semiconduttori per la conversione elettronica di potenza a banda larga
Gli standard JEDEC hanno riconosciuto la necessità di fornire standard WBG per l'industria dei semiconduttori di potenza. Nel settembre 2017 è stato costituito il comitato JC70 sui semiconduttori per la conversione elettronica di potenza a banda larga sia per GaN JC70.1 che per SiC JC-70.2. Ciascuna sezione ha tre gruppi di lavoro che si concentrano su procedure di affidabilità e qualificazione, elementi e parametri delle schede tecniche e metodi di prova e caratterizzazione.

Keysight partecipa attivamente allo sviluppo di questi standard.

Mentre JEDEC continua a definire i test dinamici dei dispositivi WBG, stanno iniziando ad emergere alcuni test standardizzati. Il PD1500A DPT di Keysight determina questi parametri chiave di prestazione:

• Caratteristiche di accensione
• Caratteristiche di spegnimento
• Resistenza dinamica di accensione
• Corrente e tensione dinamiche
• Caratteristiche di commutazione