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PD1550A 雙脈衝測試儀 / 進階功率元件分析儀

進階動態功率元件分析儀 / 雙脈衝測試儀

PD1550A 雙脈衝分析儀 / 先進功率元件分析儀可提供可靠、可重複的寬能隙雙脈衝測試量測。

產品影像

  • 最小電流量測解析度

    10 fA

  • Number of channels

    8

  • 支援的量測

    Turn-on, Turn-off, Switching, Dynamic on-resistance, Gate charge, Reverse recovery, Dynamic voltage / current

  • Maximum output voltage

    1500

  • Maximum output current

    3000 A

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準備好取得報價

瞭解包含哪些項目，並探索 Keysight 提供的可用升級選項。

焦點訊息

  • 可靠、可重複地量測寬能隙 (SiC、GaN) 功率半導體的動態特性，適用於離散元件和功率模組。
  • 量測的特性包括導通、關斷、切換、反向恢復、閘極電荷等。
  • 用於量測功率模組高側元件的 True Pulse 隔離探棒。
  • 免焊接觸技術，無需焊接即可提供可重複、可靠的結果。
  • 為待測裝置 (DUT) 和使用者提供安全的測試環境。
  • 可客製化、可擴充、可升級的模組化平台，可測試所有功率元件。

身為現成量測解決方案，PD1550A 可為寬能隙半導體功率模組提供可靠、可重複的量測。此平台可確保使用者安全並保護系統的量測硬體。Keysight 在量測科學領域累積了 80 多年的專業知識，奠定了其確保雙脈衝測試 (DPT) 結果可靠且可重複的能力。憑藉與客戶和標準組織在 PD1500A 方面密切合作所累積的經驗，Keysight 現正協助客戶克服 WBG 功率模組動態特性分析的挑戰。例如，高頻測試 (GHz 範圍)、低洩漏 (飛安培範圍) 和脈衝功率 (1,500 A 電流，10 µs 解析度) 等創新。因此，Keysight 擁有獨特優勢，可協助您克服動態功率半導體特性分析的挑戰。

PD1550A 隨附標準進階量測技術，例如探棒補償、偏移調整、去傾斜和共模雜訊抑制。這些技術應用於創新的量測拓撲和佈局中。專為此系統開發了半自動校準程序 (AutoCal)，可校正系統增益和偏移誤差。該系統還採用去嵌入技術，以補償電流分流器中的電感寄生效應。True Pulse Isolate 探棒技術可實現精確的高側 Vgs 量測，而免焊接觸技術則可實現可重複的可靠量測，無需焊接大型接觸焊盤。

電子元件產業聯合會 (JEDEC) 是微電子產業開放標準和出版品開發領域的全球領導者。JEDEC 委員會在開發廣泛技術標準方面提供產業領導力。

JEDEC 委員會：JC-70 寬能隙功率電子轉換半導體
JEDEC 標準意識到需要為功率半導體產業提供寬能隙 (WBG) 標準。2017 年 9 月，成立了 JC70 寬能隙功率電子轉換半導體委員會，負責 GaN JC70.1 和 SiC JC-70.2。每個部分都有三個任務組，分別專注於可靠性和認證程序、資料表要素和參數，以及測試和特性分析方法。

Keysight 正積極參與這些標準的制定。

隨著 JEDEC 持續定義 WBG 裝置的動態測試，一些標準化測試開始出現。Keysight PD1500A DPT 可決定以下這些關鍵性能參數：

  • 開啟特性
  • 關斷特性
  • 動態導通電阻
  • 動態電流與電壓
  • 切換特性

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