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Testeur de structures électriques

Découvrez une solution de contrôle capacitif non destructif qui permet d'identifier avec précision les défauts dans les microélectroniques liées par des fils.

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  • Test types

    Single Die Wire-Bonded Packages

  • System width

    700 mm to 1,430 mm

  • Maximum parallel testing

    4 to 20 sites

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Prêt pour un devis

Découvrez ce qui est inclus et explorez les options de mise à niveau disponibles auprès de Keysight.

Points forts

Solutions innovantes pour la détection des défauts de soudure par fil

Le testeur de structure électrique Keysight est une solution de test capacitive conçue pour détecter avec précision les défauts de soudure des fils. Grâce à l'analyse avancée de la moyenne des composants (PAT), le testeur établit une référence à partir d'unités dont la conformité est avérée afin de détecter rapidement les anomalies telles que les quasi-courts-circuits, les fils errants, les déviations de fils et les affaissements au sein des circuits intégrés (CI). Cette fonctionnalité garantit une gestion rigoureuse de la qualité des produits et améliore considérablement l'efficacité de la production. Le testeur de structure électrique vous permet de :

  • Tester des boîtiers à puce unique avec connexion par fil, sous forme de puces individuelles ou en bande.
  • Assurez une production à haut débit grâce à un maximum de 20 postes de test en parallèle, pour atteindre jusqu'à 72 000 circuits intégrés par heure (UPH).
  • Améliorez le rendement grâce à des méthodes avancées telles que le test de réessai marginal (MaRT), le test de moyennage dynamique des pièces (DPAT) et le test de moyennage en temps réel des pièces (RPAT).

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