專為晶圓製造商設計的矽光子測試解決方案

隨著 800G 可插拔收發器和共同封裝光學元件(CPO)技術越來越受到關注,晶圓廠紛紛利用 CMOS 製程技術,將業務擴展到矽光子晶片製造領域。

然而,矽光子晶片製造測試需要超越傳統電子量測與探量的全新技術,例如靈敏的光學量測整合,以及複雜的光學探棒對準等。

此外,新技術必須滿足晶圓製造測試系統的一般要求,例如:全自動測試功能、絕佳的可重測性,以及高系統可用性。

是德科技提供統包式矽光子測試解決方案,以克服這些技術挑戰,讓業者能夠成功實現當今和未來的矽光晶圓製造流程。

製造商必備的半導體測試設備

半導體製造商需要跟上持續演進的最新微影製程(lithography)趨勢,並加速採用高速量測技術。 是德科技是半導體測試和量測解決方案的創新者,我們深知您需在高速、高準確度探棒和光學掃描檢測方面,獲得最新進展。 是德科技半導體測試解決方案可協助您降低測試成本,提高獲利空間並在新市場中取得競爭優勢。

適用於半導體設計的工具

IxVerify - 矽前網路測試

越是等到設計過程後期才進行測試,就越可能發生代價高昂的錯誤。 在下線(tape-out)之前就先測試網路功能,可讓您節省數百萬美元的開發成本和寶貴的上市時間。

IxVerify 是業界首見與僅有,專門用於矽前(pre-silicon)驗證的網路測試解決方案,它提供數百個預先定義的封包樣板,可用於測試大量的乙太網路和 TCP/IP 協定,並提供強大的頻寬和延遲分析工具。

參數測試解決方案

半導體測試和製造流程技術可降低您的測試成本,並全面克服研發和生產過程中的測試挑戰。 使用是德科技全系列參數測試儀,獲得精確的低位準量測效能。

4080 系列提供基本參數測試所需的各種量測功能。

是德科技客服中心提供您需要的協助