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半導體測試
利用是德科技半導體測試設備，快速、經濟有效地測試新式半導體
專為晶圓製造商設計的矽光子測試解決方案
隨著 800G 可插拔收發器和共同封裝光學元件（CPO）技術越來越受到關注，晶圓廠紛紛利用 CMOS 製程技術，將業務擴展到矽光子晶片製造領域。
然而，矽光子晶片製造測試需要超越傳統電子量測與探量的全新技術，例如靈敏的光學量測整合，以及複雜的光學探棒對準等。
此外，新技術必須滿足晶圓製造測試系統的一般要求，例如：全自動測試功能、絕佳的可重測性，以及高系統可用性。
是德科技提供統包式矽光子測試解決方案，以克服這些技術挑戰，讓業者能夠成功實現當今和未來的矽光晶圓製造流程。
製造商必備的半導體測試設備
半導體製造商需要跟上持續演進的最新微影製程（lithography）趨勢，進而加速採用高速量測技術。 是德科技是半導體測試和量測解決方案的創新者，我們深知您需在高速、高準確度探棒和光學掃描檢測方面，獲得最新進展。 是德科技半導體測試解決方案可協助您降低測試成本，提高獲利空間並在新市場中取得競爭優勢。
模擬中的半導體設計測試
越是等到設計過程後期才進行測試，就越可能發生代價高昂的錯誤。 在下線（tape-out）之前測試 ASIC/SoC 功能，可避免晶片重新設計的風險，進而加速推出新產品，同時節省數百萬美元的開發成本。
IxVerify 是業界首屈一指的網路測試解決方案，可在執行模擬時，對路由器、交換器、汽車和 SmartNIC ASIC/SoC 設計進行矽前驗證。 它提供數百個預先定義的封包樣本和強大的自動化功能，還配備高效能頻寬、延遲和協定分析工具，讓大容量乙太網路設計變得輕而易舉。
您可在使用硬體或虛擬流量產生器的全虛擬化矽前環境和矽後測試環境之間，重複使用全虛擬化測試環境，以加速推出新產品並降低成本。
參數測試解決方案
半導體測試和製造流程技術可降低您的測試成本，以全面克服研發和生產過程中的測試挑戰。 使用是德科技全系列參數測試儀，獲得精確的低位準量測效能。
4080 系列提供基本參數測試所需的各種量測功能。
是德科技客服中心提供您需要的協助
