適用於元件特性分析的最精確儀器取決於四個因素：
- 您的測試頻率
- 元件的阻抗範圍
- 您需要的是單點量測還是掃描頻率量測
- 您是否需要直流偏壓或高測試信號準位
Keysight 提供從 20 Hz 到 3 GHz 的精密 LCR 錶和阻抗分析儀，讓您可以選擇最符合您所測試元件需求的儀器。
LCR 錶還是阻抗分析儀：您需要哪一種？
LCR 錶：最適合在特定頻率下進行快速且高精度的量測。非常適合在研發、進料檢驗和生產中驗證元件值。
阻抗分析儀：最適合了解元件在整個頻率範圍內的特性表現。非常適合尋找共振、建立寄生參數模型以及特性化半導體和材料。
快速選型指南
- 高達 2 MHz，最高基本精度：精密 LCR 錶
- 從 20 Hz 到 120 MHz 的掃描分析：阻抗分析儀
- 高達 3 GHz 的 RF 元件與材料：RF 阻抗分析儀
- 生產中的高頻被動元件：RF LCR 錶
通用元件特性分析的基準。
- 基本精度：0.05%，在低阻抗和高阻抗下皆具有極佳的重複性
- 量測速度：最快可達 5.6 ms
- 參數：R、L、C、ESR、Q、D、阻抗等
- 測試信號：高達 20 Vrms，具有增強型直流偏壓選項
- 掃描：201 點列表掃描
- 誤差校正：OPEN、SHORT 和 LOAD 補償，以及電纜長度校正
- 最佳用途：電容器、電感器、電阻器和材料的研發與製造量測
另提供支援高達 1 MHz 測試的低成本版本。
超越 2 MHz 的精密阻抗分析。
- 基本精度：±0.08%（典型值 ±0.045%）
- 阻抗範圍：25 mΩ 至 40 MΩ（10% 精度範圍）
- 直流偏壓：內建，0 V 至 ±40 V 且 0 A 至 ±100 mA
- 分析工具：等效電路分析和極限線測試
- 最適合：共振分析、寄生參數建模，以及元件、半導體與材料特性分析
精確的 RF 頻段阻抗分析。
- 基本準確度：±0.65%
- 阻抗範圍：120 mΩ 至 52 kΩ（10% 準確度範圍）
- 選項：直流偏壓、介電與磁性材料量測、晶圓上（on-wafer）量測
- 最適合：RF 電感器、電容器、鐵粉芯（ferrite beads），以及介電與磁性材料
針對產線提供快速、可重複的高頻測試。
- 基本準確度：0.8%
- 最適合：晶片電感器、電容器和其他高頻被動元件的高速測試
超越基本準確度的考量
基本準確度是在理想條件下規定的。您實際應用中的準確度亦取決於：
- 待測元件的阻抗
- 測試頻率與信號準位
- 施加的直流偏壓
- 測試夾具、導線長度與溫度
無論您是需要用於低頻元件測試且具備 0.05% 基本準確度的精密 LCR 錶、高達 120 MHz 掃描分析的阻抗分析儀，或是高達 3 GHz RF 特性分析的 RF 阻抗分析儀，Keysight 都能提供精密阻抗解決方案，滿足您從研發到生產各個階段的需求。