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Keysight 提供三種能力級別的雜訊指數和相位雜訊分析儀。
快速、精準的雜訊指數
高靈敏度相位雜訊量測
Keysight NF7 級雜訊指數分析儀包括 N8973B-N8976B 雜訊指數分析儀。它們旨在進行快速、準確且可重複的雜訊指數量測。當與我們的訊號雜訊源 (SNS) 和隨附的 USB 前置放大器結合使用時,雜訊指數分析儀會自動下載過量雜訊比 (ENR) 資料,從而簡化量測過程。我們的雜訊指數分析儀易於使用,具有多點觸控介面,可啟用拉伸、捏合和拖曳手勢。
Keysight 相位雜訊分析儀分為兩個級別。PN3 級包括 E5045A-E5047A 訊號源分析儀,PN7 級包括 E5055A-E5058A 訊號源分析儀和 N5511A 相位雜訊測試系統。它們提供準確、高靈敏度的量測,以偵測最低的相位雜訊和假訊號位準。增強的互相關方法可抑制內部雜訊,並確保準確、可重複的結果 — 尤其是在量測 相位雜訊極小的訊號源時。我們的高階機型可實現超高靈敏度 量測,讀數可低至 kT 熱雜訊底限 (-177 dBm/Hz), 確保對最低可能訊號位準進行精確特性分析。
Keysight NF7 級雜訊指數分析儀包括 N8973B-N8976B 雜訊指數分析儀。它們旨在進行快速、準確且可重複的雜訊指數量測。當與我們的訊號雜訊源 (SNS) 和隨附的 USB 前置放大器結合使用時,雜訊指數分析儀會自動下載過量雜訊比 (ENR) 資料,從而簡化量測過程。我們的雜訊指數分析儀易於使用,具有多點觸控介面,可啟用拉伸、捏合和拖曳手勢。
Keysight 相位雜訊分析儀分為兩個級別。PN3 級包括 E5045A-E5047A 訊號源分析儀,PN7 級包括 E5055A-E5058A 訊號源分析儀和 N5511A 相位雜訊測試系統。它們提供準確、高靈敏度的量測,以偵測最低的相位雜訊和假訊號位準。增強的互相關方法可抑制內部雜訊,並確保準確、可重複的結果 — 尤其是在量測 相位雜訊極小的訊號源時。我們的高階機型可實現超高靈敏度 量測,讀數可低至 kT 熱雜訊底限 (-177 dBm/Hz), 確保對最低可能訊號位準進行精確特性分析。
透過精選支援方案以及優先回應與周轉時間,加速創新。
取得可預測的租賃式訂閱和完整的生命週期管理解決方案,讓您更快達成業務目標。
成為 KeysightCare 訂閱者,體驗更優質的服務,獲得承諾的技術回應及更多。
確保您的測試系統符合規格要求,並符合當地與全球標準。
透過內部講師指導的訓練和線上學習,快速進行量測。
下載 Keysight 軟體,或將您的軟體更新至最新版本。
雜訊指數 (NF) 量化了裝置或系統對訊號雜訊比 (SNR) 的劣化程度。其定義為 NF = (SNRin) / (SNRout),通常以分貝 (dB) 表示。
0 dB 的雜訊指數代表理想的無雜訊裝置。實際上,放大器、混頻器和接收器等元件會引入額外的熱雜訊和電子雜訊。
雜訊指數的重要性:
雜訊指數的量測方法:
Keysight 的現代解決方案可自動執行校驗、雜訊源控制和不確定度校正,以提高量測準確度。
相位雜訊描述了訊號的短期頻率不穩定性,是振盪器和射頻系統的關鍵參數。
根據美國國家標準暨技術研究院 (NIST) 的定義,單邊帶 (SSB) 相位雜訊是載波頻率偏移處的雜訊功率密度與載波功率之比:L(f) = (Pnoise(f)) / Pcarrier
它通常以特定偏移頻率下的 dBc/Hz 表示。
相位雜訊的重要性:
相位雜訊的量測方法:
相位雜訊是使用相位雜訊分析儀或訊號源分析儀量測的,這些儀器能以高靈敏度評估載波的頻率偏移。
雜訊指數和相位雜訊量測 RF 效能的不同層面:
雜訊指數:
衡量裝置為訊號增加多少雜訊(訊號雜訊比 (SNR) 劣化)。適用於接收器、放大器和 RF 前端設計。
相位雜訊:
衡量訊號源的頻率穩定度和頻譜純度。適用於振盪器、合成器和發射系統
使用時機:
• 在最佳化靈敏度和最大程度降低訊號鏈中的雜訊時,請使用雜訊指數
• 在評估頻率穩定度和調變品質時,請使用相位雜訊
兩者在現代 RF 系統中都至關重要,例如 5G、航太和衛星通訊。
選擇分析儀時,務必評估數個主要規格,以確保其符合您的量測需求。
核心參數:
分析儀的頻率範圍,從 Hz 到 GHz,必須完全涵蓋您的待測裝置。靈敏度通常以 dBm 表示,決定了儀器偵測極低雜訊位準的能力,而動態範圍則定義了最小和最大可量測訊號之間的範圍。量測準確度和不確定度也至關重要,因為它們直接影響結果的可靠性。
雜訊指數的特定考量:
對於雜訊指數量測,請確保分析儀支援所需的量測範圍,並與適當的雜訊源相容。它還應支援既定的技術,例如 Y 因子法和冷源(向量)法,以便在不同的測試情境中提供彈性和準確度。
相位雜訊的特定考量:
評估相位雜訊效能時,請考量分析儀的相位雜訊底限(以 dBc/Hz 表示),以及可用的偏移頻率範圍。具備互相關功能的儀器可顯著提高靈敏度,從而實現更精確的低相位雜訊訊號特性分析。
分析儀生態系統:
Keysight 的現代解決方案整合了校驗常式、自動化和進階分析軟體,以提高量測重複性和產出。
準確的量測不僅需要正確的儀器,還需要完善控制的設定,以確保可靠的結果。
雜訊指數量測設定:
典型的雜訊指數量測設定包括雜訊指數分析儀或訊號分析儀,以及具有指定過量雜訊比 (ENR) 的校驗雜訊源。待測裝置 (DUT) 使用高品質 RF 纜線連接,並進行適當的阻抗匹配,以最大程度地減少量測誤差。
相位雜訊量測設定:
對於相位雜訊量測,使用相位雜訊分析儀或訊號源分析儀,並搭配穩定的參考振盪器。維持低雜訊環境並提供足夠的遮罩至關重要,以防止外部干擾影響量測。
最佳實務:
為了獲得準確且可重複的結果,請在量測前執行完整的系統校驗。最大程度地減少纜線損耗和阻抗不匹配也同樣重要,並在整個測試過程中控制溫度和環境條件。
如果量測誤差未得到適當控制,可能會嚴重影響結果,因此,務必瞭解並緩解最常見的不準確來源。
常見誤差來源:
誤差通常源於元件之間的不匹配,這會引入電壓駐波比 (VSWR) 效應。校驗不準確以及雜訊源的不確定性,特別是與過量雜訊比 (ENR) 相關的部分,會進一步降低量測可靠度。此外,儀器雜訊底限的限制可能會限制量測極低電平訊號的能力,而溫度變化和電磁干擾 (EMI) 等環境因素也會影響結果。
如何提高準確度:
提高準確度始於使用高品質、經過校驗的雜訊源,並採用適當的校驗技術,例如 Y 因子法或向量校正。對於相位雜訊量測,平均和互相關等技術可以提高靈敏度。此外,盡量縮短纜線長度並減少相關損耗,並遵循符合 NIST 等行業標準的既定最佳實踐,也同樣重要。
雜訊指數和相位雜訊量測在廣泛的產業中扮演著關鍵角色,支援現代 RF 系統的設計、驗證和最佳化。
主要應用:
這些量測廣泛應用於 RF 和微波設計,以及對效能要求嚴苛的 5G 和其他無線通訊系統。它們在航太和國防應用中也至關重要,包括衛星和雷達系統,並常應用於半導體元件特性分析,以評估元件級效能。
為何它們很重要:
透過精確地描述雜訊和訊號行為,這些量測有助於確保訊號完整性和整體系統可靠度。它們對於最佳化接收器靈敏度和發射器效能,以及驗證是否符合產業和法規標準至關重要。
Keysight 的進階量測平台 以高準確度和自動化支援這些應用。
相位雜訊可以根據待測裝置和特定的量測目標,以不同的方式進行特性分析。
絕對相位雜訊:
絕對相位雜訊量測訊號源的總相位雜訊,通常以單埠量測的方式執行。此方法用於評估振盪器和訊號產生器的整體頻譜純度和頻率穩定度。
殘餘(附加)相位雜訊:
殘餘或附加相位雜訊量測訊號鏈中特定元件所引入的雜訊。它通常用於特性分析放大器、混頻器和頻率轉換器等裝置,有助於隔離它們對整體系統雜訊的個別貢獻。
這兩種量測類型對於隔離和最佳化 RF 訊號鏈中的效能至關重要。