무엇을 찾고 있습니까?
미래 반도체 기술을 테스트합니다.
제품 설계 및 제조 주기 전반에 걸쳐 반도체 혁신을 가속화하십시오. 복잡한 장치 모델링 및 설계를 자동화하고 검증하십시오. 자동화된 측정, 장치 모델 추출 및 검증부터 최종 공정 설계 키트 검증까지 포괄하는 엔드투엔드 모델링 솔루션을 활용하십시오. RF 중심 설계 도구를 통해 물리적, 회로 및 시스템 설계의 효율성을 향상하고 완벽한 개발 에코시스템으로 반도체 설계를 현실화할 수 있습니다.
귀사의 반도체 테스트 솔루션을 찾아보십시오.
혁신적인 반도체 설계
통합 IP 솔루션
IP 관리
생성부터 게시까지 제어 및 추적성을 통해 IP 데이터, 프로젝트 조정 및 협업을 중앙화합니다.
시각 설계
회로도와 레이아웃을 동기화하고 엔지니어링 변경 주문(ECO) 회의를 위한 보고서를 생성합니다.
웨이퍼 테스트 효율성 가속화
기본 매개변수 시험
기본적인 파라메트릭 테스트에 필요한 광범위한 측정 기능을 제공합니다.
재정의된 파라메트릭 테스트
최첨단 기능성 반도체 테스트
MIPI® D-PHY℠ 적합성 테스트
D-PHY 데이터 링크를 검증하고 디버깅하며 CSI 및 DSI 아키텍처에 대한 D-PHY 적합성 테스트를 실행합니다.
USB 송신 테스트
설계를 신속하게 테스트, 디버그 및 특성화하고 테스트 종료 시 HTML 보고서를 생성합니다.
밀리미터파 신호 분석
정확한 신호와 최고 수준의 광대역 mmWave 성능을 제공합니다.
수신기 적합성 시험
고속 디지털 설계 테스트를 위한 규정 준수 절차를 간소화합니다.
메모리 분석
트래픽 개요 및 실시간 규정 준수 위반 테스트를 통한 메모리 분석을 가능하게 합니다.
귀사의 사용 사례에 대한 솔루션을 찾아보십시오.
다음을 수행하는 방법을 알아보십시오:
- LED의 IV 특성을 평가합니다.
- 와이드 밴드갭 반도체 및 전력 모듈을 테스트합니다.
- 저전력 집적 회로 특성화
키사이트의 반도체 솔루션을 살펴보십시오
LED IV 특성화 솔루션
정확하고 고해상도의 전류 대 전압 측정을 가능하게 하며, 광범위한 전류 및 전압 측정 기능을 제공합니다.
이중 펄스 테스트 솔루션
JEDEC 사양을 준수하기 위해 와이드 밴드갭 전력 반도체 동적 특성에 대한 신뢰할 수 있고 반복 가능한 측정을 수행합니다.
WBG 반도체 전력 모듈 테스터
정밀 SiC 반도체 전력 모듈 측정을 제공하고 펄스 절연 프로브 기술로 하이 사이드 게이트 전압 특성화 문제를 해결합니다.
저전력 IC 특성화 솔루션
회로 설계를 검증하고, 결함을 식별하며, 성능을 최적화하기 위해 매우 낮은 전류 및 전압 레벨에서 다양한 작동 조건 하에 IV 특성화를 수행합니다.
키사이트 소프트웨어로 개발 가속화
IP 관리
생성부터 게시까지 IP 데이터, 프로젝트 조정, 제어 및 추적성을 중앙화합니다.
메모리 분석
트래픽 개요 및 실시간 규정 준수 위반 테스트를 통한 메모리 분석을 가능하게 합니다.
더 많은 인사이트 및 리소스 이용
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““레이어 1~7 엔드투엔드 솔루션으로 테스트 시간을 50% 단축했습니다.” 이는 자동차를 오토모티브 이더넷 통신 기술로 업그레이드해야 했던 중국 최대 자동차 제조업체 중 하나인 BYD의 사례입니다.”
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“키사이트가 C-V2X 표준에 기여하고 광범위한 C-V2X 테스트 기능을 제공함으로써 OmniAir는 세계 최초의 C-V2X 인증 프로그램을 구축할 수 있었습니다. 저희는 시장 수요에 맞춰 최초의 C-V2X 테스트 연구소를 승인하고 C-V2X 장치를 인증하는 다음 단계를 기대하고 있습니다.”
제이슨 콘리, 옴니에어 컨소시엄
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“키사이트는 개발 시간과 비용을 획기적으로 줄이는 데 도움을 주었습니다. 저희 엔지니어들은 설계 프로세스 훨씬 초기에 문제를 확인하고 키사이트의 자동차 레이더 테스트 솔루션으로 문제를 해결할 수 있습니다. 리콜 위험이 크게 줄었습니다. 키사이트와 함께라면 저희 엔지니어들은 당사의 자동차 레이더가 도로에서 더 많은 생명을 구하는 데 도움이 될 것이라고 더욱 확신합니다.”
세계 최고의 자동차 제조업체
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“저희는 DC-DC 컨버터를 테스트하기 위해 수동 측정 방식을 사용했는데, 처리 시간이 너무 길고 반복적인 비용이 많이 들었습니다. 키사이트는 4개의 DUT를 동시에 측정할 수 있는 자동 병렬 테스트 방식을 제안했습니다. 이를 통해 테스트 처리 시간(TAT)을 크게 단축하고 리소스를 절약하며 테스트 효율성을 향상시킬 수 있었습니다.”
일본의 주요 자동차 OEM
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