주요 특징

키사이트 4080 시리즈 직렬 파라메트릭 테스트부터 P9001A 핀 기준 병렬 파라메트릭 테스트까지 모든 테스트 요구를 충족시키므로 진화하는 모든 반도체 제조업체들은 최상의 파라메트릭 테스트 투자 회수가 가능합니다.
  • 유연하고 구성 가능한 파라메트릭 테스트 솔루션을 통해 직렬부터 병렬까지 자체적인 파라메트릭 테스터를 구축할 수 있습니다.
  • 대표적인 P9001A에 내장된 키사이트의 고유한 기술을 사용하면 "진정한" 핀별 파라메트릭 테스트 플랫폼으로 혁신적인 높은 스루풋을 확보할 수 있습니다.
  • 유연한 옵션 구조로 테스트 스루풋과 예산의 완벽한 균형을 맞출 수 있습니다.
  • 새로운 테스트 요구가 발생할 때마다 추가적인 채널 및 테스트 기능 옵션으로 파라메트릭 테스터를 업그레이드할 수 있습니다.
  • 키사이트 4080 시리즈와의 데이터 상호연결성이 우수합니다.
  • 병렬 테스트 계획을 쉽게 개발할 수 있습니다.
  • 4080 환경에서 쉽게 마이그레이션할 수 있습니다.

포함 항목:

  • 캐비닛
  • 테스트 헤드
  • 시스템 컨트롤러
최대 SPGU 출력 채널 수
4 channels
최대 측정 핀 수
100
최소 전류 측정 분해능
0.1 fA
최소 전압 측정 분해능
2 µV
Parallel Parametric Test Capability
최대 SPGU 출력 채널 수
최대 측정 핀 수
최소 전류 측정 분해능
최소 전압 측정 분해능
Parallel Parametric Test Capability
4 channels
100
0.1 fA
2 µV
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추가 기능:
SPGU output
CV measurement
폼 팩터 :
N/A
최대 측정 핀 수:
100
최대 SPGU 출력 채널 수:
4 channels
최소 전류 측정 분해능:
0.1 fA
최소 전압 측정 분해능:
2 µV
Parallel Parametric Test Capability:
유형:
Parametric Test Solution
파라메트릭 테스트 시스템 키사이트

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