Testate il futuro della tecnologia dei semiconduttori

Offre una guida completa alla progettazione, un supporto per i progetti e strumenti di ottimizzazione per migliorare la resa.

Facilita l'analisi, la simulazione e l'ottimizzazione efficiente dei circuiti di circuiti RF e a microonde per progetti ad alte prestazioni.

Integra simulatori di momento planari 3D e simulatori FEM 3D completi per garantire l'integrità della progettazione durante l'intero processo.

Integra i dati termici nelle simulazioni dei circuiti e rileva i problemi di affidabilità nelle caratteristiche su scala submicronica.

Consente simulazioni elettromagnetiche 3D precise per una progettazione efficiente senza prototipi fisici.

Ottimizza la progettazione di RFIC con solutori e librerie avanzate, che assicurano una modellazione, una simulazione e un'efficienza accurate.

Offre simulazioni rapide, precisione quasi circuitale e perfetta integrazione per lavorare su sistemi RF complessi. integrazione per lavorare su sistemi RF complessi.

Estrae modelli compatti accurati utilizzati in applicazioni RF ad alta velocità/digitali, analogiche e di potenza.

Supporta modelli standard e offre pacchetti di estrazione automatica per la modellazione di dispositivi al silicio.

Consente la convalida e il confronto dei modelli SPICE, generando rapporti QA con un solo clic.

Offre la caratterizzazione dei dispositivi con strumenti di gestione dei dati per le misure di rumore a bassa frequenza.

Consente una flessibilità di progettazione per soddisfare esigenze specifiche di prestazioni con opzioni standard e configurabili.

Fornisce una soluzione integrata per le funzionalità di test ottico/elettrico per il sondaggio completamente automatizzato dei wafer.

Consente di costruire il proprio tester parametrico da seriale a parallelo.

Consente contatti senza saldature e una vera sonda di isolamento a impulsi.

Offre misurazioni IV ad alta risoluzione e risultati rapidi con un'interfaccia facile da usare.

Offre precisione per soddisfare i test parametrici/di affidabilità e caratterizzazione dei semiconduttori.

Fornisce 20 canali SMU in uno spazio rack 1U e si adatta a un'ampia gamma di requisiti applicativi.

Caratterizza dispositivi ad alta potenza e supporta diverse misure di tensione, corrente e capacità.

Si integra con PathWave WaferPro per automatizzare il controllo dell'ispezione dei wafer in collaborazione con FormFactor.

Identifica e analizza segnali ed eventi anomali intermittenti nella forma d'onda che l'analisi manuale non è in grado di identificare.

Consente una caratterizzazione accurata dei ricevitori di dispositivi a una o più vie con velocità fino a 16 o 32 Gb/s.

Offre prestazioni di R&S fino a 53 GHz, flessibilità di test avanzata e caratterizzazione completa dei dispositivi.

Consente di eseguire test sugli standard 400 GbE con il supporto di segnali PAM4 e NRZ con transizioni rapide e basso jitter.

Scoprite una soluzione di test capacitivo non distruttivo che identifica con precisione i difetti nella microelettronica legata a filo.