Come testare i moduli di potenza a semiconduttore ad ampio bandgap

Analizzatore di dispositivi di potenza
+ Analizzatore di dispositivi di potenza

Caratterizzazione dei moduli di potenza a semiconduttore WBG con la tecnologia delle sonde isolate a impulsi reali

Il collaudo di un modulo di potenza in un sistema di test a doppio impulso (DPT) richiede la misurazione dei segnali del lato basso e del lato alto. I moduli di potenza in carburo di silicio (SiC) e nitruro di gallio (GaN) a banda larga (WBG) hanno una densità di potenza più elevata rispetto ai dispositivi di potenza discreti e incorporano più chip di transistor a effetto campo (FET) per aumentare la corrente. La ricarica ad alta velocità richiede l'uso di semiconduttori ad alta corrente e alta tensione che operano fino a 400 A, come SiC e GaN. L'esclusiva configurazione del modulo di potenza a mezzo ponte di questi semiconduttori richiede la misurazione indipendente del potenziale di tensione alla giunzione tra la sorgente del dispositivo high-side e il drain del dispositivo low-side, che cambia dinamicamente con ampie oscillazioni di tensione durante la commutazione del mezzo ponte. Ciò rende difficile la misurazione del FET high-side, soprattutto per le piccole tensioni di gate.

La tecnica DPT è lo standard industriale per la determinazione dei parametri di prestazione dei semiconduttori di potenza. Gli ingegneri addetti ai test hanno bisogno di un tester a doppio impulso che utilizzi la tecnologia delle sonde isolate dagli impulsi per raccogliere una tensione di gate accurata. Il sistema si basa sulla compensazione RF ad alta larghezza di banda per fornire una misura accurata delle correnti elevate. Il sistema DPT deve includere tecniche di misura avanzate standard come la compensazione della sonda, la regolazione dell'offset, il de-skewing e la reiezione del rumore di modo comune. È inoltre necessaria una routine di calibrazione semi-automatica per correggere gli errori di guadagno e di offset del sistema. Il sistema deve essere conforme alle ultime linee guida JEDEC per la caratterizzazione standardizzata dei dispositivi WBG.

Tester per moduli di potenza a semiconduttori WBG

Il collaudo dei moduli di potenza a semiconduttore WBG che operano a correnti e larghezze di banda elevate richiede una tecnologia di sonde isolate dagli impulsi per soddisfare gli standard JEDEC JC-70 WBG per GaN e SiC. L'analizzatore e tester di dispositivi WBG di Keysight (modello PD1550A) offre misure ripetibili e affidabili di moduli di potenza a semiconduttore SiC. Risolve le sfide della caratterizzazione della tensione di gate high-side con l'innovativa tecnologia della sonda isolata dagli impulsi. Esegue test su moduli di potenza fino a 1.360 V e 1.000 A, con una tecnologia di Contattaci senza saldatura che consente di risparmiare tempo per collegare i moduli in prova.

Guarda la demo del test dei moduli di potenza ad ampio bandgap

Esplorate i prodotti della nostra soluzione di test per moduli di potenza ad ampio bandgap

Casi d'uso correlati

contattaci logo

Mettetevi in Contattaci con uno dei nostri esperti

Avete bisogno di aiuto per trovare la soluzione giusta per voi?