如何消除被測裝置中的尖峰訊號與雜訊

專業類比訊號產生器
+ Pro 類比訊號產生器

更清晰地檢視待測物雜訊與寄生訊號

RF 元件特性分析使用受控的射頻激發訊號來評估來自待測物的低位準混附響應、近端雜訊、轉換產物和失真假影。設置通常包括頻譜純淨的信號產生器、經過校準的纜線或濾波器,以及用於觀看輸出頻譜的信號分析儀或測量接收器。

為所需的載波頻率、輸出位準和頻譜純度配置信號源,然後將其套用到待測物。低相位雜訊、低殘留頻率調變以及減少的混附內容有助於限制信號源引起的假影,從而更輕鬆地將裝置產生的響應與信號源相關的效應區分開來。

被測裝置(DUT)的輻射可見度解決方案

RF 元件特性分析需要乾淨的激發訊號以及能夠解析低位準頻譜假影的量測路徑。本解決方案使用高頻譜純度訊號產生器來激發受測裝置,同時限制源端相關的相位雜訊、殘餘頻率調變和混附內容。工程師可以觀察來自混頻器、放大器、轉換器或訊號鏈元件的近端雜訊、低位準混附訊號、轉換產物和失真響應。當必須在受控的射頻條件下量測微小的頻譜差異時,此設定有助於將受測裝置(DUT)產生的假影與訊號源引起的效應區分開來。

查看待測物混附訊號可視化解決方案的方塊圖

如何揭示被測裝置的尖峰訊號與雜訊方塊圖

探索我們的待測物混附訊號可視化解決方案中的產品

探索資源與洞察

待測物混附訊號可視化其他資源

相關應用案例

聯絡我們標誌

聯絡我們的一位專家

需要協助尋找適合您的解決方案嗎?