如何消除被測裝置中的尖峰訊號與雜訊

專業類比訊號產生器
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更清晰地檢視待測裝置的測試結果

射頻元件特性分析是透過受控的射頻激勵,來評估被測裝置所產生的低電平雜散響應、近端雜訊、轉換產物及失真偽影。該測試系統通常包含一台頻譜純淨的訊號發生器、經校準的連接線或濾波器,以及一台訊號分析儀或測量接收機,用以觀察輸出頻譜。

根據所需的載波頻率、輸出電平及頻譜純度來設定訊號源,然後將其施加至被測裝置。低相位雜訊、低殘餘頻率調變以及降低的雜散成分,有助於限制由訊號源引起的偽影,從而更容易將裝置產生的響應與刺激相關的影響區分開來。

被測裝置(DUT)的輻射可見度解決方案

射頻元件特性分析需要純淨的激勵訊號,以及能夠分辨低電平頻譜偽影的測量路徑。此解決方案採用高頻譜純度訊號產生器來激勵被測裝置,同時抑制與訊源相關的相位雜訊、殘餘頻率調變及雜散成分。 工程師可觀察到來自混頻器、放大器、轉換器或訊號鏈元件的近端雜訊、低電平雜散、轉換產物及失真響應。當必須在受控的射頻條件下測量微小的頻譜差異時,此測試配置有助於將被測裝置(DUT)產生的偽影與信源誘導的影響區分開來。

請參閱被測裝置干擾信號可見性解決方案的方塊圖

如何揭示被測裝置的尖峰訊號與雜訊方塊圖

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