Wie man Störsignale und Rauschen am Prüfling aufdeckt

Professioneller analoger Signalgenerator
+ Professioneller Analogsignalgenerator

Artefakte des Prüflings deutlicher sehen

Die Charakterisierung von HF-Komponenten nutzt einen kontrollierten Hochfrequenzimpuls, um schwache Störsignale, Nahfeldrauschen, Umwandlungsprodukte und Verzerrungsartefakte des Prüflings zu bewerten. Der Versuchsaufbau umfasst typischerweise einen spektral reinen Signalgenerator, kalibrierte Kabel oder Filter sowie einen Signalanalysator oder Messempfänger zur Beobachtung des Ausgangsspektrums.

Konfigurieren Sie die Signalquelle für die erforderliche Trägerfrequenz, den Ausgangspegel und die spektrale Reinheit und legen Sie sie anschließend an das zu testende Gerät an. Geringes Phasenrauschen, geringe Restfrequenzmodulation und reduzierte Störanteile tragen dazu bei, quellenbedingte Artefakte zu minimieren und die Trennung von Geräteantworten von stimulusbedingten Effekten zu erleichtern.

Lösung zur Sichtbarkeit des Prüflings

Die Charakterisierung von HF-Komponenten erfordert ein sauberes Anregungssignal und einen Messpfad, der spektrale Artefakte geringer Intensität auflösen kann. Diese Lösung nutzt einen Signalgenerator mit hoher spektraler Reinheit, um das Prüfobjekt anzuregen und gleichzeitig quellenbedingtes Phasenrauschen, Restfrequenzmodulation und Störsignale zu minimieren. Ingenieure können Nahfeldrauschen, Störsignale geringer Intensität, Umwandlungsprodukte und Verzerrungsantworten von Mischern, Verstärkern, Wandlern oder Signalkettenelementen beobachten. Der Aufbau hilft, vom Prüfobjekt erzeugte Artefakte von quellenbedingten Effekten zu trennen, wenn kleine spektrale Unterschiede unter kontrollierten Hochfrequenzbedingungen gemessen werden müssen.

Siehe Blockdiagramm der Lösung zur Sichtbarkeit von Störsignalen des Prüflings

Blockdiagramm zum Aufdecken von Störsignalen und Rauschen am Prüfling

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