테스트 대상 장치의 스퍼 및 노이즈를 제거하는 방법

+ 프로급 아날로그 신호 발생기

테스트 대상 장치의 아티팩트를 더 선명하게 확인하세요

RF 소자 특성 분석은 제어된 무선 주파수 자극을 사용하여 피측정 소자에서 발생하는 저수준 스퓨리어스 응답, 근접 노이즈, 변환 산물 및 왜곡 아티팩트를 평가합니다. 이 측정 시스템은 일반적으로 스펙트럼 순도가 높은 신호 발생기, 교정된 케이블 또는 필터, 그리고 출력 스펙트럼을 관찰하기 위한 신호 분석기 또는 측정용 수신기로 구성됩니다.

필요한 반송파 주파수, 출력 레벨 및 스펙트럼 순도에 맞게 신호 소스를 설정한 다음, 이를 피시험 장치에 적용합니다. 낮은 위상 잡음, 낮은 잔류 주파수 변조 및 감소된 스퓨리어스 성분은 소스에 의한 인공 신호를 제한하는 데 도움이 되며, 이를 통해 장치에서 생성된 응답을 자극 관련 효과와 더 쉽게 구분할 수 있습니다.

테스트 대상 장치(DUT) 스퍼 가시성 솔루션

RF 소자 특성 분석에는 깨끗한 자극 신호와 저수준 스펙트럼 아티팩트를 분해할 수 있는 측정 경로가 필요합니다. 이 솔루션은 스펙트럼 순도가 높은 신호 발생기를 사용하여 피측정 장치(DUT)에 자극을 가하는 동시에, 소스 관련 위상 잡음, 잔류 주파수 변조 및 스퓨리어스 성분을 제한합니다. 엔지니어들은 믹서, 증폭기, 변환기 또는 신호 경로 요소에서 발생하는 근접 노이즈, 저수준 스퍼, 변환 산물 및 왜곡 응답을 관찰할 수 있습니다. 이 설정은 제어된 무선 주파수 조건 하에서 미세한 스펙트럼 차이를 측정해야 할 때, 피측정 장치(DUT)에서 생성된 아티팩트와 소스에서 유발된 효과를 구분하는 데 도움이 됩니다.

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