테스트 대상 장치의 스퍼 및 노이즈를 제거하는 방법

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피시험 장치 아티팩트를 더욱 선명하게 확인

RF 부품 특성화는 제어된 고주파 자극을 사용하여 피시험 장치의 저레벨 스퍼리어스 응답, 근접 노이즈, 변환 생성물 및 왜곡 아티팩트를 평가합니다. 이 설정에는 일반적으로 스펙트럼이 순수한 신호 발생기, 교정된 케이블 또는 필터링, 그리고 출력 스펙트럼을 관측하기 위한 신호 분석기나 측정 수신기가 포함됩니다.

필요한 반송파 주파수, 출력 레벨 및 스펙트럼 순도로 신호 소스를 구성한 다음 피시험 장치에 인가합니다. 낮은 위상 잡음, 낮은 잔류 주파수 변조 및 감소된 스퍼리어스 성분은 소스로 인한 아티팩트를 제한하는 데 도움이 되며, 장치 생성 응답을 자극 관련 효과와 더 쉽게 분리할 수 있게 해줍니다.

테스트 대상 장치(DUT) 스퍼 가시성 솔루션

RF 부품 특성화에는 깨끗한 자극과 저레벨 스펙트럼 아티팩트를 해결할 수 있는 측정 경로가 필요합니다. 이 솔루션은 고스펙트럼 순도의 신호 발생기를 사용하여 피시험 장치를 자극하는 동시에 소스 관련 위상 잡음, 잔류 주파수 변조 및 스퍼리어스 성분을 제한합니다. 엔지니어는 믹서, 증폭기, 컨버터 또는 신호 체인 요소의 근접 노이즈, 저레벨 스퍼스, 변환 생성물 및 왜곡 응답을 관측할 수 있습니다. 이 설정은 제어된 고주파 조건에서 작은 스펙트럼 차이를 측정해야 할 때 DUT 생성 아티팩트를 소스 유도 효과와 분리하는 데 도움이 됩니다.
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피시험 장치 스퍼스 가시성 솔루션의 블록 다이어그램 보기

피시험 장치(DUT)의 스퍼 및 노이즈 블록 다이어그램을 분석하는 방법

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