Comment mettre en évidence les interférences et le bruit du dispositif sous test
Visualisez plus clairement les artefacts du dispositif testé
La caractérisation des composants RF utilise un stimulus radiofréquence contrôlé pour évaluer les réponses parasites de faible niveau, le bruit de proximité, les produits de conversion et les artefacts de distorsion émis par le dispositif testé. Le montage comprend généralement un générateur de signaux spectralement pur, un câblage ou un filtrage étalonné, ainsi qu'un analyseur de signaux ou un récepteur de mesure permettant d'observer le spectre de sortie.
Configurez la source de signal en fonction de la fréquence porteuse, du niveau de sortie et de la pureté spectrale requis, puis appliquez-la au dispositif testé. Un faible bruit de phase, une faible modulation de fréquence résiduelle et une teneur réduite en signaux parasites contribuent à limiter les artefacts induits par la source, ce qui facilite la distinction entre les réponses générées par le dispositif et les effets liés au stimulus.
Solution de visibilité des signaux de commande pour les équipements sous test
Voir le schéma fonctionnel de la solution de visibilité des signaux parasites du dispositif sous test
Découvrez les produits de notre solution de visibilité « Device Under Test » (DUT)
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E8257D PSG Générateur de signaux analogiques, 100 kHz à 67 GHz
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N5182B MXG X-Series RF Vector Signal Generator, 9 kHz to 6 GHz
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Générateur de signaux analogiques RF N5181B MXG série X, 9 kHz à 6 GHz
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Générateur de signaux analogiques RF PSG E8663D, de 100 kHz à 9 GHz
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Ressources supplémentaires pour améliorer la visibilité du dispositif sous test
Cas d'utilisation connexes
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