被試験装置のスパースおよびノイズを明らかにする方法

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被測定物（DUT）のアーチファクトをより明確に確認

RFコンポーネントの特性評価では、制御された高周波（RF）刺激を使用して、被測定デバイスからの低レベルのスプリアス応答、近傍ノイズ、変換積、および歪みアーティファクトを評価します。セットアップには通常、スペクトラム的に純度の高い信号発生器、校正済みのケーブルまたはフィルタリング、および出力スペクトラムを観測するための信号アナライザまたは測定受信機が含まれます。

必要なキャリア fréquence、出力レベル、およびスペクトラム純度に合わせて信号源を設定し、それを被測定デバイスに印加します。低い位相雑音、低い残留周波数変調、および低減されたスプリアス成分は、信号源に起因するアーティファクトを制限するのに役立ち、デバイスが生成した応答と信号源に関連する効果を容易に分離できるようにします。

被試験デバイス向けスパー可視化ソリューション

RFコンポーネントの特性評価には、クリーンな刺激と、低レベルのスペクトラム・アーティファクトを分解できる測定パスが必要です。このソリューションでは、高スペクトラム純度の信号発生器を使用して被測定デバイスを刺激し、信号源に関連する位相雑音、残留周波数変調、およびスプリアス成分を抑えます。エンジニアは、ミキサー、アンプ、コンバータ、またはシグナル・チェーン要素からの近傍ノイズ、低レベルスプリアス、変換積、および歪み応答を観測できます。このセットアップは、制御された高周波条件の下で小さなスペクトラムの差異を測定する必要がある場合に、DUTが生成したアーティファクトと信号源に起因する効果を分離するのに役立ちます。
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