如何測試 LPDDR6 接收器的合規性

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在壓力下表徵 LPDDR6 接收器餘裕

LPDDR6 透過提高每接腳資料速率、加寬資料路徑和降低操作電壓，以改善 AI 驅動系統的頻寬效率和功耗。這些進展顯著縮小了接收器餘裕，更窄的時序視窗、更快的訊號邊緣，以及對抖動和雜訊更高的敏感度，限制了傳統靜態量測的有效性。此外，LPDDR6 的架構特性，例如雙子通道和整合式邊帶訊號，增加了接收器的複雜性，並使其在壓力下更容易受到損害交互作用的影響。因此，必須在劣化的實際條件下驗證接收器性能，以確保在製程、電壓和溫度極限下都能可靠運作。

LPDDR6 接收器驗證需要受控的壓力測試，以量化校準電氣損害下的位元錯誤率 (BER)。工程師必須注入確定性與隨機抖動、電壓雜訊和時序偏移，同時在定義的置信水準下量測 BER，以識別餘裕限制和故障閾值。這些測試要求在 LPDDR6 資料速率下，具備精確的碼型產生、可重複的壓力注入和準確的錯誤偵測能力。具有至少 64 GBd 碼型產生和錯誤偵測功能的高性能位元錯誤率測試儀 (BERT) 可提供壓力刺激產生和 BER 分析，而頻寬大於 25 GHz 的示波器則支援訊號完整性驗證和壓力校準，並透過自動化測試軟體實現可重複的最差情況分析。

LPDDR6 接收器符合性測試解決方案

LPDDR6 接收器一致性測試要求在校準電氣損害下對接收器施加壓力，同時量測 BER 以識別故障閾值。Keysight 的 LPDDR6 接收器一致性測試解決方案採用 64 GBd 高性能 BERT、旗艦示波器和一致性測試軟體，可在符合標準的工作流程中處理碼型產生、確定性與隨機壓力注入、BER 量測和引導式自動化。這種方法可實現可重複的接收器餘裕表徵，降低設定複雜性，並支援在實際操作條件下的早期設計評估和正式一致性驗證。
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