如何測量光二極體的暗電流

+ 飛安培計/皮安培計和靜電計

測量逆向偏壓暗電流

此測試需要在封閉夾具中安裝光電二極體，以確保在測量期間沒有光線到達元件。將逆向偏壓電壓施加到光電二極體陰極，同時在電流錶輸入端測量產生的電流。測量設置必須支援預期低電流範圍內的電壓掃描和電流採集。

對於具代表性的矽光電二極體測試，請使用 500 個點和固定的 20 pA 電流範圍，將逆向偏壓電壓從 10 mV 掃描至 5 V。使用 1 秒的測量延遲和 1.2 秒的測量週期，以便在每次讀數之前讓洩漏和介電吸收暫態穩定下來。在對數 X-Y 圖表上顯示電流-電壓結果以便快速檢查。

光電二極體暗電流測量解決方案

此測試需要在進行逆向偏壓電壓掃描的同時，同步測量光電二極體電流。Keysight 電位計 / 高電阻計將電壓源和電流錶整合在一個儀器中，允許在掃描逆向偏壓電壓的同時在每個點採集電流。對於範例設置，測量使用固定的 20 pA 範圍、從 10 mV 到 5 V 的 500 個掃描點，以及具有 1.2 秒週期的 1 秒測量延遲。該儀器提供具有對數 X 軸和 Y 軸縮放功能的圖形檢視，用於檢查電流-電壓曲線，並且可以從前面板或使用 SCPI 指令遠端啟動測量。

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