如何產生電子戰測試訊號

多發射源情境生成
+ 多發射源 情境生成

簡化電子戰測試訊號的生成

電子戰(EW)系統的測試需要一個受控的射頻(RF)環境,其中須包含具備特定幅值、頻率、脈衝寬度、脈衝內調變、脈衝重複間隔、相干處理間隔及天線掃描調變等特徵的代表性雷達發射源。工程師可結合多個發射源,以測試威脅識別、優先級排序、分類、去交錯、篩選、子系統相關性分析及電子反制等功能。

更進階的應用情境還包含自訂同相與正交(IQ)調變、可變脈衝上升與下降時間、任意調變,以及非線性啁啾調變。對於多端口被測系統,相干信源亦能透過依據幾何模型及航點定義的路徑,調整各端口間的功率、多普勒頻率與相位,從而重現入射角(AoA)與動態運動學特性。

情境視覺化

透過定義各發射器的參數,並將發射器組合成具代表性的射頻情境,以建立測試環境,供直接注入或無線測試使用。N7660C Signal Studio for Multi-Emitter Scenario Generation 提供訊號生成環境,而 UXG 訊號產生硬體則將該情境傳輸至被測系統。 此解決方案支援對雷達參數的控制,包括頻率、振幅、脈衝寬度、脈衝重複間隔、相干處理間隔以及天線掃描調變。N5194A UXG 向量適配器可透過自訂 IQ 調變與複數脈衝特性,擴展情境生成功能。多台相干 UXG 裝置可透過控制相對相位、振幅、時序、都卜勒頻率及功率,支援入射角與運動學模擬。

請參閱「多發射源威脅模擬」的方塊圖

多發射器威脅模擬的方塊圖

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