如何測定雷射二極體的線性度

索取報價
不可或缺的桌上型源量測單元
+ 不可或缺的 桌上型源量測單元
不可或缺的桌上型源量測單元
+ 不可或缺的 桌上型源量測單元

使用恆電位分析儀測量自放電電流

光-電流-電壓特性分析需要在寬廣的工作範圍內，同步進行電流源供電、電壓測量及光功率監測。該測試會將雷射驅動電流掃描至微安培至次安培範圍，同時透過光電偵測器測量發射的光功率，並監測雷射二極體兩端的電壓降。測量系統必須保持低雜訊且具備足夠的解析度，以便在整個掃描過程中識別微小的非線性現象。

斜率效率分析常被用於放大那些僅憑光電流曲線難以直接辨識的微小異常。導數響應會將「折點現象」以斜率效率曲線上的銳利不連續點或峰值呈現出來。要進行精確的特性分析，必須具備高掃描點密度、儀器間穩定的同步性，以及快速的測量吞吐量，以減輕測試過程中元件自發熱所造成的熱效應。

雷射二極體線性度解決方案

雷射二極體的 L-I-V 特性分析需要同步進行電流掃描測量、電壓監測以及具備低雜訊與高動態範圍的光輸出檢測。工程師必須在維持快速吞吐量的同時，精確捕捉微小的非線性現象，以減輕測試過程中的熱漂移與自加熱效應。透過將光源與測量功能整合至同步測試平台中，高精度光源測量儀可簡化儀器配置並提升測量效率。 快速掃描能力、低雜訊運作、寬電流覆蓋範圍及高解析度測量，有助於工程師在評估整個工作範圍內的斜率效率與光輸出線性度的同時，精確捕捉「折點現象」。
索取報價

請參閱雷射二極體線性度解決方案的方塊圖

如何表徵雷射二極體的線性度——方塊圖

探索「我們的雷射二極體線性度解決方案」相關產品

相關應用案例

如何測量絕緣材料的電阻率

利用電計和電阻率池，高精度地測量絕緣材料的表面電阻率和體積電阻率。

了解更多

如何設計與優化場效應晶體管放大器

利用模擬與量測工作流程設計並優化場效應晶體管（FET）放大器，以進行精確的射頻性能驗證。

了解更多

如何表徵雙極性電晶體的 IV 曲線

利用同步雙通道 SMU 測量來表徵雙極性電晶體的電流-電壓特性，以進行精確的元件分析。

了解更多

聯絡我們標誌

聯絡我們的一位專家

需要協助尋找適合您的解決方案嗎？

與我們聯絡