如何測定雷射二極體的線性度

+ 基礎桌上型源表

使用電位分析儀量測自放電電流

光電流電壓特性分析需要在廣泛的工作範圍內進行同步電流源輸出、電壓量測和光功率監測。測試會在微安培到次安培區域之間進行雷射驅動電流掃描，同時透過光偵測器量測發出的光功率，並監測雷射二極體的壓降。量測系統必須維持低雜訊和足夠的解析度，以便在整個掃描過程中辨識出微小的非線性特性。

斜率效率分析通常用於放大單從光電流曲線本身難以直接辨識的小型異常。微分響應會將扭結現象顯示為斜率效率軌跡中的尖銳不連續處或峰值。精確的特性分析需要高掃描點密度、儀器之間穩定的同步化，以及快速的量測產出率，以減少測試期間由元件自我發熱引起的熱效應。

雷射二極體線性度解決方案

雷射二極體 L-I-V 特性分析需要具備低雜訊與高動態範圍的同步電流掃描量測、電壓監測和光學輸出偵測。工程師必須擷取微小的非線性特性，同時維持高產出率，以減少測試期間的熱漂移和自我發熱效應。透過將源極和量測功能結合成一個同步測試平台，精密源表簡化了儀器配置並提高了量測效率。快速掃描能力、低雜訊運作、寬廣的電流涵蓋範圍以及高解析度量測，有助於工程師準確擷取扭結現象，同時評估整個工作範圍內的斜率效率和光學輸出線性度。

索取報價