레이저 다이오드의 선형성을 평가하는 방법

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전위차 분석기를 이용한 자기 방전 전류 측정

광-전류-전압(L-I-V) 특성화에는 넓은 동작 범위에 걸쳐 동기화된 전류 소싱, 전압 측정 및 광 출력 모니터링이 필요합니다. 테스트는 마이크로암페어에서 서브암페어 영역까지 레이저 구동 전류를 스위프하는 동시에 광 검출기를 통해 방출되는 광 출력을 측정하고 레이저 다이오드 양단의 전압 강하를 모니터링합니다. 측정 시스템은 스위프 전반에서 미세한 비선형성을 식별할 수 있도록 저잡음과 충분한 분해능을 유지해야 합니다.

기울기 효율(slope-efficiency) 분석은 광-전류 곡선 자체만으로는 직접 식별하기 어려운 미세한 이상 징후를 증명하는 데 흔히 사용됩니다. 미분 응답은 킹(kink) 현상을 기울기 효율 추적의 급격한 불연속성 또는 피크로 나타냅니다. 정확한 특성화를 위해서는 높은 스위프 포인트 밀도, 장비 간의 안정적인 동기화, 그리고 테스트 중 디바이스 자체 발열로 인한 열 효과를 줄이기 위한 빠른 측정 처리량이 필요합니다.

레이저 다이오드 선형성 솔루션

레이저 다이오드 L-I-V 특성화에는 저잡음 및 고동적 범위를 갖춘 동기화된 전류 스위프 측정, 전압 모니터링 및 광 출력 감지가 필요합니다. 엔지니어는 테스트 중 열적 드리프트와 자체 발열 효과를 줄이기 위해 빠른 처리량을 유지하면서 미세한 비선형성을 포착해야 합니다. 소스 및 측정 기능을 동기화된 테스트 플랫폼으로 결합함으로써 정밀 소스 측정 유닛은 장비 구성을 단순화하고 측정 효율성을 향상시킵니다. 빠른 스위프 기능, 저잡음 동작, 넓은 전류 커버리지, 고해상도 측정은 엔지니어가 전체 동작 범위에서 기울기 효율 및 광 출력 선형성을 평가하는 동안 킹 현상을 정확하게 포착할 수 있도록 지원합니다.
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