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雙向故障注入探棒

透過電磁脈衝，在現代晶片上造成局部故障。

產品影像

  • 最高頻率

    1 MHz

  • Maximum voltage

    100 V ± 10%

  • Technology

    Device Security

  • 產品類型

    Bidirectional fault injection probe

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準備好取得報價

瞭解包含哪些項目，並探索 Keysight 提供的可用升級選項。

焦點訊息

Keysight DS1121A 雙向故障注入探棒可在使用者定義的晶片位置上，產生高功率的電磁 (EM) 脈衝。快速且可預測的脈衝可滿足國際測試實驗室和製造商的需求。

測試人員可使用 Keysight 的 EM 故障注入軟體來控制探棒組、XY 工作台和攝影機，該軟體還可實現測試情境的自動化，並輕鬆報告以進行進一步分析和改進。雙向故障注入探棒可獨立使用，或在客製化環境中，或與您自己的硬體和軟體整合使用。

隨著晶片封裝日益複雜，以及採用精密的光敏感測器以防止光學雷射故障，這種用於故障注入情境的新測試向量可繞過傳統措施，並為高階安全測試邁出下一步。

Keysight 雙向故障注入探棒提供以下功能：

  • 無需晶片解封裝
  • 光感測器網格無法偵測 EM 脈衝雜訊
  • 翻轉目標裝置上邏輯單元的數值
  • 與雷射脈衝雜訊相比，永久性晶片損壞的機率較低
  • 可產生可調整的高功率脈衝，並內含不同線圈以在晶片上產生不同的 EM 場
  • 可透過軟體配置快速短脈衝
  • 提供快速且可預測的觸發響應
  • 適用於 Keysight 精密 XYZ 平台和多模態故障注入雷射，以進行自動化掃描
  • 包含標準 EM-FI 暫態線圈和一個新月形探棒鐵氧體

服務與支援