Bidirektionale Fehlerinjektionssonde

Induzieren von elektromagnetischen Impulsen zur Erzeugung lokaler Fehler auf modernen Chips.

Produktbild
  • Maximum frequency

    1 MHz

  • Maximum voltage

    100 V ± 10%

  • Technology

    Device Security

  • Product type

    Bidirectional fault injection probe

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Highlights

Die bidirektionale Fehlerinjektionssonde Keysight DS1121A erzeugt elektromagnetische (EM) Impulse hoher Leistung an einer vom Benutzer definierten Stelle auf dem Chip. Der schnelle und präzise Impuls erfüllt die Anforderungen internationaler Prüflaboratorien und Hersteller.

Mit der EM-Fehlerinjektionssoftware von Keysight können Tester die Sonden, den XY-Tisch und die Kamera steuern. Die Software ermöglicht außerdem die Automatisierung von Testszenarien und die einfache Berichterstellung für weiterführende Analysen und Optimierungen. Die bidirektionale Fehlerinjektionssonde kann in Standalone- oder kundenspezifischen Umgebungen eingesetzt oder in bestehende Hardware- und Softwarelösungen integriert werden.

Angesichts immer anspruchsvollerer Chip-Gehäuse und hochentwickelter lichtempfindlicher Sensoren zur Vermeidung optischer Laserfehler umgeht dieser neue Testansatz für Fehlereinspeisungsszenarien traditionelle Maßnahmen und geht den nächsten Schritt bei High-End-Sicherheitstests.

Die bidirektionale Fehlerinjektionssonde von Keysight bietet folgende Funktionen:

  • Erfordert keine Chip-Entpackung
  • Lichtsensornetze erkennen keine EM-Störungen.
  • Kehrt die Werte der Logikzellen auf dem Zielgerät um.
  • Bietet im Vergleich zu Laserstörungen ein geringeres Risiko dauerhafter Chipbeschädigung.
  • Ermöglicht einstellbare Hochleistungsimpulse und beinhaltet verschiedene Spulen zur Erzeugung unterschiedlicher elektromagnetischer Felder auf einem Chip.
  • Ermöglicht die Konfiguration schneller und kurzer Impulse per Software.
  • Gewährleistet eine schnelle und vorhersehbare Reaktion auf Auslöser
  • Passend für Keysight Präzisions-XYZ-Tisch und Multimode-Fehlerinjektionslaser für automatisiertes Scannen
  • Beinhaltet Standard-EM-FI-Transientenspulen und eine sichelförmige Ferritsonde.