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IDIOMA
Interferencias electromagnéticas Inyección de fallos
Modelo: DS1121A
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Sonda de inyección de fallos bidireccional
Inducir pulsos electromagnéticos para provocar fallos localizados en chips modernos.
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Maximum frequency
1 MHz
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Maximum voltage
100 V ± 10%
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Technology
Device Security
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Product type
Bidirectional fault injection probe
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Destacados
La sonda de inyección de fallos bidireccional DS1121A de Keysight induce pulsos electromagnéticos (EM) de alta potencia en una ubicación del chip definida por el usuario. El pulso rápido y predecible cumple con las exigencias de los laboratorios de pruebas y fabricantes internacionales.
Los evaluadores pueden controlar el conjunto de sondas, la mesa XY y la cámara con el software de inyección de fallos EM de Keysight, que también permite automatizar los escenarios de prueba y generar informes fácilmente para su posterior análisis y perfeccionamiento. Utilice la sonda de inyección de fallos bidireccional en entornos independientes o personalizados, o intégrela con su propio hardware y software.
Con paquetes de chips cada vez más complejos y sofisticados sensores sensibles a la luz para evitar fallos ópticos del láser, este nuevo vector de prueba para escenarios de inyección de fallos supera las medidas tradicionales y da un paso más en las pruebas de seguridad de alta gama.
La sonda de inyección de fallos bidireccional de Keysight ofrece las siguientes características:
- No requiere desempaquetado del chip.
- Las mallas de sensores de luz no detectan fallos electromagnéticos.
- Inverte el valor de las celdas lógicas en el dispositivo de destino.
- Ofrece menos probabilidades de daños permanentes en el chip en comparación con el glitching láser.
- Permite pulsos ajustables de alta potencia e incluye diferentes bobinas para generar diferentes campos electromagnéticos sobre un chip.
- Permite configurar pulsos rápidos y cortos con software.
- Proporciona una respuesta rápida y predecible al disparador.
- Se adapta a la plataforma XYZ de precisión de Keysight y al láser de inyección de fallos multimodo para el escaneo automatizado.
- Incluye bobinas transitorias EM-FI estándar y una sonda de ferrita en forma de media luna.
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