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양방향 결함 주입 프로브

최신 칩에서 국부적인 오류를 수행하기 위해 전자기 펄스를 유도합니다.

제품 이미지

  • Maximum frequency

    1 MHz

  • Maximum voltage

    100 V ± 10%

  • Technology

    Device Security

  • Product type

    Bidirectional fault injection probe

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견적 준비 완료

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하이라이트

키사이트 DS1121A 양방향 결함 주입 프로브는 사용자 정의 칩 위치에 고출력 전자기(EM) 펄스를 유도합니다. 빠르고 예측 가능한 펄스는 국제 테스트 실험실 및 제조업체의 요구 사항을 충족합니다.

테스터는 키사이트의 EM 결함 주입 소프트웨어를 사용하여 프로브 세트, XY 테이블, 카메라를 제어할 수 있으며, 이를 통해 테스트 시나리오 자동화 및 추가 분석과 개선을 위한 간편한 리포팅이 가능합니다. 독립형 또는 사용자 정의 환경에서 양방향 결함 주입 프로브를 사용하거나 자체 하드웨어 및 소프트웨어와 통합할 수 있습니다.

점차 까다로워지는 칩 패키지와 광학 레이저 결함을 방지하기 위한 정교한 감광 센서 환경에서, 결함 주입 시나리오를 위한 이 새로운 테스트 벡터는 기존의 측정 방식을 우회하고 하이엔드 보안 테스트의 다음 단계를 제시합니다.

키사이트 양방향 결함 주입 프로브는 다음과 같은 기능을 제공합니다.

  • 칩 디패키징 불필요
  • 광 센서 메시는 EM 글리치를 감지하지 않음
  • 타겟 디바이스의 로직 셀 값 반전
  • 레이저 글리칭에 비해 영구적인 칩 손상 가능성 감소 제공
  • 조정 가능한 고출력 펄스를 지원하며 칩 위에 다양한 EM장을 생성하기 위한 다양한 코일 포함
  • 소프트웨어를 통한 빠르고 짧은 펄스 구성 허용
  • 트리거에 대한 빠르고 예측 가능한 응답 제공
  • 자동 스캔을 위해 키사이트 정밀 XYZ 스테이지 및 멀티모드 결함 주입 레이저에 장착
  • 표준 EM-FI 과도 현상 코일 및 초승달형 프로브 페라이트 1개 포함

서비스 및 지원