網路研討會
隨著射頻（RF）量測的要求日益嚴苛，訊號源的性能對工程師能夠進行的特性分析影響也愈發顯著。訊號源產生的雜訊與雜散訊號可能會掩蓋低電平元件的行為，而測試路徑損耗及多源量測則會增加在訊號電平、機架空間、線纜配置及設定方面的複雜性。
歡迎與是德科技的產品與研發工程師一同參加這場為期 30 分鐘的新款 Pro XG7 類比訊號發生器介紹會。您將能親眼見證該平台的實際運作，了解其架構如何解決相位雜訊、寬頻雜訊、雜散成分、輸出功率以及多通道測試等需求，並深入理解這些設計抉擇如何轉化為實際的射頻測量結果。
從事高效能射頻量測工作的射頻工程師、系統設計師及技術決策者應出席本次會議。本場次特別適合在航太與國防、無線通訊及先進研發環境中，負責處理信源雜訊、有損測試路徑、高功率激勵訊號或多通道測試配置的團隊。