웨비나
RF 측정 요구 사항이 점점 더 까다로워짐에 따라, 신호 소스의 성능이 엔지니어들이 특성화할 수 있는 범위에 미치는 영향이 점점 더 커지고 있습니다. 소스에서 발생하는 노이즈와 스퍼는 저수준의 소자 동작을 가려버릴 수 있으며, 테스트 경로 손실과 다중 소스 측정은 신호 레벨, 랙 공간, 케이블 연결 및 설정 측면에서 복잡성을 가중시킵니다.
키사이트의 제품 및 연구개발(R&D) 엔지니어들과 함께 새로운 Pro XG7 아날로그 신호 발생기에 대한 30분간의 소개 세션에 참여해 보세요. 플랫폼을 직접 체험해 보고, 이 플랫폼의 아키텍처가 위상 잡음, 광대역 잡음, 스퓨리어스 성분, 출력 전력 및 다중 채널 테스트 요구 사항을 어떻게 해결하는지 알아보며, 이러한 설계 선택이 실제 RF 측정 결과로 어떻게 반영되는지 이해해 보세요.
고성능 RF 측정을 담당하는 RF 엔지니어, 시스템 설계자 및 기술 의사결정권자들은 이 세션에 참석해야 합니다. 이 세션은 특히 항공우주 및 방위, 무선, 첨단 R&D 환경에서 소스 노이즈, 손실이 있는 테스트 경로, 고출력 자극 신호 또는 다중 채널 테스트 설정을 관리하는 팀에게 유용합니다.
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