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Man mano che le misurazioni RF diventano più complesse, le prestazioni della sorgente di segnale possono influire sempre maggiormente su ciò che gli ingegneri sono in grado di caratterizzare. Il rumore e le spurie generate dalla sorgente possono oscurare il comportamento dei dispositivi a basso livello, mentre la perdita nel percorso di prova e le misurazioni con più sorgenti aggiungono complessità in termini di livello del segnale, spazio nel rack, cablaggio e configurazione.
Unisciti agli ingegneri di prodotto e di ricerca e sviluppo di Keysight per un'introduzione di 30 minuti al nuovo generatore di segnali analogici Pro XG7. Scopri la piattaforma dal vivo, scopri come la sua architettura risponde alle esigenze relative al rumore di fase, al rumore a banda larga, ai segnali spuri, alla potenza di uscita e ai test multicanale, e comprendi come queste scelte progettuali si traducano in misurazioni RF reali.
Sono invitati a partecipare ingegneri RF, progettisti di sistemi e responsabili delle decisioni tecniche che si occupano di misurazioni RF ad alte prestazioni. La sessione è particolarmente rilevante per i team che gestiscono il rumore di sorgente, percorsi di prova con perdite, stimoli ad alta potenza o configurazioni di prova multicanale nei settori aerospaziale e della difesa, wireless, e in ambienti avanzati di ricerca e sviluppo.
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