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À mesure que les mesures RF deviennent plus exigeantes, les performances de la source de signal peuvent avoir une influence croissante sur ce que les ingénieurs sont en mesure de caractériser. Le bruit et les signaux parasites générés par la source peuvent masquer le comportement des composants à faible niveau, tandis que les pertes au niveau du chemin de test et les mesures multi-sources ajoutent une complexité supplémentaire en termes de niveau de signal, d'espace dans le rack, de câblage et de configuration.
Rejoignez les ingénieurs produit et R&D de Keysight pour une présentation de 30 minutes consacrée au nouveau générateur de signaux analogiques Pro XG7. Découvrez cette plateforme en direct, apprenez comment son architecture répond aux exigences en matière de bruit de phase, de bruit à large bande, de signaux parasites, de puissance de sortie et de tests multicanaux, et comprenez comment ces choix de conception se traduisent en mesures RF concrètes.
Cette session s'adresse aux ingénieurs RF, aux concepteurs de systèmes et aux responsables techniques impliqués dans les mesures RF haute performance. Elle est particulièrement utile aux équipes chargées de gérer le bruit de source, les chemins de test avec pertes, les signaux de stimulation à haute puissance ou les configurations de test multicanaux dans les secteurs de l'aérospatiale et de la défense, des communications sans fil et de la R&D de pointe.
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