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A medida que las mediciones de RF se vuelven más exigentes, el rendimiento de la fuente de señal puede influir cada vez más en lo que los ingenieros son capaces de caracterizar. El ruido y las señales parásitas generadas por la fuente pueden ocultar el comportamiento de los dispositivos a bajo nivel, mientras que la pérdida en la ruta de prueba y las mediciones con múltiples fuentes añaden complejidad en cuanto al nivel de señal, el espacio en el rack, el cableado y la configuración.
Únete a los ingenieros de producto e I+D de Keysight en una sesión introductoria de 30 minutos sobre el nuevo generador de señales analógicas Pro XG7. Descubre la plataforma en directo, aprende cómo su arquitectura aborda el ruido de fase, el ruido de banda ancha, el contenido espurio, la potencia de salida y los requisitos de las pruebas multicanal, y comprende cómo esas decisiones de diseño se traducen en mediciones de RF reales.
Se recomienda la asistencia a ingenieros de RF, diseñadores de sistemas y responsables de la toma de decisiones técnicas que trabajen en mediciones de RF de alto rendimiento. La sesión resulta especialmente relevante para equipos que gestionan el ruido de fuente, rutas de prueba con pérdidas, estímulos de alta potencia o configuraciones de prueba multicanal en los sectores aeroespacial y de defensa, de comunicaciones inalámbricas y de I+D avanzada.
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