Webinar
October 4, 2023
Data
10:00AM - 12:30 PM PT
Hora
2 horas
Duração
Virtual
Localização
À medida que as medições de RF se tornam mais exigentes, o desempenho da fonte de sinal pode afetar cada vez mais o que os engenheiros conseguem caracterizar. O ruído e os sinais indesejados gerados pela fonte podem obscurecer o comportamento de dispositivos de baixo nível, enquanto a perda no caminho de teste e as medições com múltiplas fontes aumentam a complexidade em relação ao nível do sinal, ao espaço no rack, ao cabeamento e à configuração.
Junte-se aos engenheiros de produto e de P&D da Keysight para uma apresentação de 30 minutos sobre o novo gerador de sinais analógicos Pro XG7. Conheça a plataforma ao vivo, saiba como sua arquitetura lida com ruído de fase, ruído de banda larga, conteúdo espúrio, potência de saída e requisitos de teste multicanal, e entenda como essas escolhas de projeto se traduzem em medições reais de RF.
Engenheiros de RF, projetistas de sistemas e tomadores de decisão técnica que trabalham com medições de RF de alto desempenho devem participar. A sessão é especialmente relevante para equipes que lidam com ruído de fonte, caminhos de teste com perdas, estímulos de alta potência ou configurações de teste multicanal nos setores aeroespacial e de defesa, de comunicações sem fio e em ambientes avançados de P&D.
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